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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology-Theory,Algorithms, and Applications—光学计量的条纹分析:理论、算法与应用
出 版 社 Wiley
作  者 M. Servin,J. A. Quiroga,J. M. Padilla
开  本 16 开
页  码 344页
定  价 175 US$
购书电话 010-84187824
 
    内容简介:本书的主要目标是介绍经典干涉测量技术的基础理论原则与实际应用,以及应用于光学计量的现代条纹图样分析领域的最先进方法。

    推荐理由:本书的主要新颖之处在于向读者展示了一种基于利用频率传递函数(FTF)的相位转移干涉度量的傅里叶描述以及随机过程的理论的统一理论框架,这一框架用于具有诸如光谱响应、去谐和信噪比稳健性、谐波抑制能力等理想特性的相位转移算法的直接分析与合成。
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