高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性研究

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宋银, 张崇宏, 杨义涛, 孟彦成, 缑洁, 张丽卿. 2013: 高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性研究, 原子核物理评论, null(4): 460-463. doi: 10.11804/NuclPhysRev.30.04.460
引用本文: 宋银, 张崇宏, 杨义涛, 孟彦成, 缑洁, 张丽卿. 2013: 高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性研究, 原子核物理评论, null(4): 460-463. doi: 10.11804/NuclPhysRev.30.04.460
SONG Yin, ZHANG Chonghong, YANG Yitao, MEN Yancheng, GOU Jie, ZHANG Liqing. 2013: Optical Characteristics of AlN Thin Film Irradiated with High Energy 238U Ion, Nuclear Physics Review, null(4): 460-463. doi: 10.11804/NuclPhysRev.30.04.460
Citation: SONG Yin, ZHANG Chonghong, YANG Yitao, MEN Yancheng, GOU Jie, ZHANG Liqing. 2013: Optical Characteristics of AlN Thin Film Irradiated with High Energy 238U Ion, Nuclear Physics Review, null(4): 460-463. doi: 10.11804/NuclPhysRev.30.04.460

高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性研究

Optical Characteristics of AlN Thin Film Irradiated with High Energy 238U Ion

  • 摘要: 通过傅里叶变换红外光谱、拉曼光谱和光致发光谱测试手段分析了由HIRFL提供的高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性变化。辐照后出现了A1(To),A1(Lo),E1(To)和E2等声子振动吸收模式,并且辐照使其在样品近表面Al-N等振动模式遭到破坏后悬空的Al-键很快与空气中的O离子发生结合,形成了Al-O键。综合分析得出了蓝光发射带是与O离子相关的VAl-ON-3N和VAl-2ON-2N两种类型缺陷以及F-型缺陷聚合所致;绿光发射带是由基底中Al原子产生的价带之间的跃迁所致。
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出版历程
  • 刊出日期:  2013-12-20

高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性研究

  • 中国科学院近代物理研究所,甘肃兰州,730000

摘要: 通过傅里叶变换红外光谱、拉曼光谱和光致发光谱测试手段分析了由HIRFL提供的高能238U离子辐照AlN晶体薄膜的光学特性变化。辐照后出现了A1(To),A1(Lo),E1(To)和E2等声子振动吸收模式,并且辐照使其在样品近表面Al-N等振动模式遭到破坏后悬空的Al-键很快与空气中的O离子发生结合,形成了Al-O键。综合分析得出了蓝光发射带是与O离子相关的VAl-ON-3N和VAl-2ON-2N两种类型缺陷以及F-型缺陷聚合所致;绿光发射带是由基底中Al原子产生的价带之间的跃迁所致。

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