双丝耦合强度对Z箍缩电磁辐射的影响
Influence of coupling between two wires on electromagnetic radiation produced by Z-pinch
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摘要: 利用X射线二极管、光电倍增管和B-dot探针测量了峰值220 kA,o~100%上升时间100 ns的脉冲电流驱动平行双丝产生的电磁辐射.实验结果表明,不同波段的电磁辐射具有不同的辐射机制,热辐射是产生X射线的主要机制,可见光辐射来自热辐射和特征线辐射,微波辐射由非热电磁辐射机制产生.调节丝间距可改变双丝的耦合强度,当丝间距大于临界值时双丝解耦合,电磁辐射不依赖于丝间距;当丝间隙减小至低于临界值时,双丝耦合增强.增大双丝耦合强度不利于热辐射(X射线和可见光),而有利于非热电磁辐射(微波).对于单丝电流约100 kA、上升时间100 ns的驱动条件,双丝解耦合的临界间距约为10 mm,双丝耦合强度对Z箍缩在不同频段的电磁辐射有影响.丝阵由多根金属丝组成,其最小的相互作用单元可分解为双丝相互作用.
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