分子电子器件的电性能测试方法

王伟

doi:10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005

物理

分子电子器件的电性能测试方法

王伟. 2007: 分子电子器件的电性能测试方法, 物理, 36(4): 288-294. doi: 10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005

引用本文:

王伟. 2007: 分子电子器件的电性能测试方法, 物理, 36(4): 288-294. doi: 10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005

WANG Wei. 2007: Measurement of the electrical properties of molecular electronic devices, Physics, 36(4): 288-294. doi: 10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005

Citation:

WANG Wei. 2007: Measurement of the electrical properties of molecular electronic devices, Physics, 36(4): 288-294. doi: 10.3321/j.issn:0379-4148.2007.04.005

分子电子器件的电性能测试方法

王伟

清华大学化学系,北京,100084

通讯作者: 王伟

Measurement of the electrical properties of molecular electronic devices

WANG Wei

Corresponding author: WANG Wei

摘要: 介绍了用于两端分子电子器件电性能测试的纳米孔技术、交叉线接触技术、导电原子力显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、纳米间距电极技术以及机械可控断裂结技术.结合分子器件的电性能测试要求,对各类测试方法进行了分析评价,并简要指出了分子器件电性能测试研究的发展趋势.
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