高级搜索

Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究

,  , 

downloadPDF

上一篇

下一篇

朱骏, 毛翔宇, 陈小兵. 2004: Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究, 物理学报, 53(11): 3929-3933. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.11.057
引用本文: 朱骏, 毛翔宇, 陈小兵. 2004: Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究, 物理学报, 53(11): 3929-3933. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.11.057
shu
2004: Study on Raman spectra of Bi4-x LaxTi3O12-SrBi4-y LayTi4O15 intergrowth ferroelectrics, Acta Physica Sinica, 53(11): 3929-3933. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.11.057
Citation: 2004: Study on Raman spectra of Bi4-x LaxTi3O12-SrBi4-y LayTi4O15 intergrowth ferroelectrics, Acta Physica Sinica, 53(11): 3929-3933. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.11.057
shu

Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究

  • 扬州大学物理科学与技术学院,扬州,225002

Study on Raman spectra of Bi4-x LaxTi3O12-SrBi4-y LayTi4O15 intergrowth ferroelectrics

  • 摘要: 在常温下,对La掺杂共生结构铁电陶瓷Bi4-xLaxTi3O12-SrBi4-yLayTi4O15[BLT-SBLT(x+y),x+y=0.00,0.25,O.50,0.75,1.00,1.25,1.50]进行了拉曼光谱研究.结果表明,在掺杂量低于0.50时,La只取代类钙钛矿层中的Bi,当掺杂量高于0.50后,部分La开始进入(Bi2O2)2+层.La取代(Bi2O2)2+层中的部分Bi以后,(Bi2O2)2+层结构发生变化,原有的绝缘层和空间电荷库的作用减弱,导致材料剩余极化下降.La掺杂量增至1.50时,样品出现弛豫铁电性,这与30 cm-1以下模的软化相对应,说明La掺杂可引起材料的结构相变.
  • 加载中
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  429
  • HTML全文浏览数:  151
  • PDF下载数:  8
  • 施引文献:  0
出版历程
  • 刊出日期:  2004-11-30

Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究

  • 扬州大学物理科学与技术学院,扬州,225002

摘要: 在常温下,对La掺杂共生结构铁电陶瓷Bi4-xLaxTi3O12-SrBi4-yLayTi4O15[BLT-SBLT(x+y),x+y=0.00,0.25,O.50,0.75,1.00,1.25,1.50]进行了拉曼光谱研究.结果表明,在掺杂量低于0.50时,La只取代类钙钛矿层中的Bi,当掺杂量高于0.50后,部分La开始进入(Bi2O2)2+层.La取代(Bi2O2)2+层中的部分Bi以后,(Bi2O2)2+层结构发生变化,原有的绝缘层和空间电荷库的作用减弱,导致材料剩余极化下降.La掺杂量增至1.50时,样品出现弛豫铁电性,这与30 cm-1以下模的软化相对应,说明La掺杂可引起材料的结构相变.

English Abstract

    全文HTML

参考文献 (0)

目录

/

返回文章
返回