Ge在Ru(0001)表面上生长及其性质研究
Growth and characteristics of Ge on Ru(0001)
-
摘要: 报道Ge在Ru(0001)表面上生长以及相互作用行为的扫描隧道显微镜(STM)和x射线光电子能谱(XPS)研究.STM的实验结果表明Ge在Ru(0001)表面的生长呈典型的Stranski-Krastanov生长模式,Ge的覆盖度小于单原子层时呈层状生长,而从第二层开始呈岛状生长.XPS测量显示衬底Ru(0001)与Ge的相互作用很弱.Ru(0001)表面的Ru 3d5/2和Ru 3d3/2芯态结合能分别处于279.8和284.0 eV.随着Ge的生长,到Ge层的厚度为20个单原子层,衬底Ru 3d芯态结合能减小了约0.2 eV,而Ge 3d芯态结合能从Ge低覆盖度时的28.9 eV增加到了29.0 eV,其相对位移约为0.1 eV.
-
-
计量
- 文章访问数: 386
- HTML全文浏览数: 68
- PDF下载数: 9
- 施引文献: 0