高级搜索

多层膜[Co85 Cr15/Pt]20的磁性、垂直磁记录特性和微结构的关系

,  ,  ,  , 

downloadPDF

上一篇

下一篇

黄阀, 李宝河, 杨涛, 翟中海, 朱逢吾. 2005: 多层膜[Co85 Cr15/Pt]20的磁性、垂直磁记录特性和微结构的关系, 物理学报, 54(4): 1841-1846. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.04.067
引用本文: 黄阀, 李宝河, 杨涛, 翟中海, 朱逢吾. 2005: 多层膜[Co85 Cr15/Pt]20的磁性、垂直磁记录特性和微结构的关系, 物理学报, 54(4): 1841-1846. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.04.067
shu
HWANG Pol, LI Bao-he, Yang Tao, Zhai Zhong-Hai, ZHU Feng-wu. 2005: Correlation among magnetic properties, perpendicular magnetic recording properties and microstructure of [Co85Cr15/Pt]20 multilayers, Acta Physica Sinica, 54(4): 1841-1846. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.04.067
Citation: HWANG Pol, LI Bao-he, Yang Tao, Zhai Zhong-Hai, ZHU Feng-wu. 2005: Correlation among magnetic properties, perpendicular magnetic recording properties and microstructure of [Co85Cr15/Pt]20 multilayers, Acta Physica Sinica, 54(4): 1841-1846. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.04.067
shu

多层膜[Co85 Cr15/Pt]20的磁性、垂直磁记录特性和微结构的关系

  • 北京科技大学材料物理与化学系,北京,100083;金日成综合大学物理系,朝鲜平壤

  • 北京科技大学材料物理与化学系,北京,100083;北京工商大学数理部,北京,100037

  • 北京科技大学材料物理与化学系,北京,100083

Correlation among magnetic properties, perpendicular magnetic recording properties and microstructure of [Co85Cr15/Pt]20 multilayers

  • 摘要: 采用磁控溅射法制备了性能优良的以Pt为缓冲层的[Co85 Cr15/Pt]20多层膜,研究了溅射气压对[Co83Cr15/Pt]20多层膜微结构和磁性的影响.研究结果表明,Ar溅射气压对[Co85 Cr15/Pt]20多层膜的微结构、垂直磁各向异性和矫顽力有重要的影响.所有样品的有效各向异性常数K()ff＞0,具有垂直磁各向异性.随着Ar气压增加,样品垂直膜面的矫顽力增加,但样品有效磁各向异性常数减小.在1.6 Pa Ar溅射的Pt(20nm)/[(Co85Cr15(0.5 nm)/Pt(1.5 nm)]20多层膜,矫顽力达到130 kA/m,具有垂直各向异性,可作为垂直磁记录介质.原子力显微镜照片显示,随着Ar气压增加,表面平均晶粒尺寸和粗糙度均增加.这是导致多层膜的垂直矫顽力增加和有效磁各向异性常数减小的原因.
  • 加载中
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  479
  • HTML全文浏览数:  118
  • PDF下载数:  40
  • 施引文献:  0
出版历程
  • 刊出日期:  2005-04-30

多层膜[Co85 Cr15/Pt]20的磁性、垂直磁记录特性和微结构的关系

  • 北京科技大学材料物理与化学系,北京,100083;金日成综合大学物理系,朝鲜平壤
  • 北京科技大学材料物理与化学系,北京,100083;北京工商大学数理部,北京,100037
  • 北京科技大学材料物理与化学系,北京,100083

摘要: 采用磁控溅射法制备了性能优良的以Pt为缓冲层的[Co85 Cr15/Pt]20多层膜,研究了溅射气压对[Co83Cr15/Pt]20多层膜微结构和磁性的影响.研究结果表明,Ar溅射气压对[Co85 Cr15/Pt]20多层膜的微结构、垂直磁各向异性和矫顽力有重要的影响.所有样品的有效各向异性常数K()ff＞0,具有垂直磁各向异性.随着Ar气压增加,样品垂直膜面的矫顽力增加,但样品有效磁各向异性常数减小.在1.6 Pa Ar溅射的Pt(20nm)/[(Co85Cr15(0.5 nm)/Pt(1.5 nm)]20多层膜,矫顽力达到130 kA/m,具有垂直各向异性,可作为垂直磁记录介质.原子力显微镜照片显示,随着Ar气压增加,表面平均晶粒尺寸和粗糙度均增加.这是导致多层膜的垂直矫顽力增加和有效磁各向异性常数减小的原因.

English Abstract

    全文HTML

参考文献 (0)

目录

/

返回文章
返回