高级搜索

红外激光对可见光CCD成像系统的干扰

,  ,  ,  ,  ,  ,  ,  , 

downloadPDF

上一篇

下一篇

刘长安, 陈金宝, 马金龙, 魏东, 孙滨, 裘伟, 罗向前, 周杰, 张轶. 2010: 红外激光对可见光CCD成像系统的干扰, 强激光与粒子束, 22(8): 1727-1730. doi: 10.3788/HPLPB201002208.1727
引用本文: 刘长安, 陈金宝, 马金龙, 魏东, 孙滨, 裘伟, 罗向前, 周杰, 张轶. 2010: 红外激光对可见光CCD成像系统的干扰, 强激光与粒子束, 22(8): 1727-1730. doi: 10.3788/HPLPB201002208.1727
shu
Liu Chang'an, Chen Jinbao, Ma Jinlong, Wei Dong, Sun Bin, Qiu Wei, Luo Xiangqian, Zhou Jie, Zhang Yi. 2010: Jamming of visible light array CCD imaging system by infrared laser, High Power Lase and Particle Beams, 22(8): 1727-1730. doi: 10.3788/HPLPB201002208.1727
Citation: Liu Chang'an, Chen Jinbao, Ma Jinlong, Wei Dong, Sun Bin, Qiu Wei, Luo Xiangqian, Zhou Jie, Zhang Yi. 2010: Jamming of visible light array CCD imaging system by infrared laser, High Power Lase and Particle Beams, 22(8): 1727-1730. doi: 10.3788/HPLPB201002208.1727
shu

红外激光对可见光CCD成像系统的干扰

  • 国防科学技术大学光电科学与工程学院,长沙,410073;西北核技术研究所,西安,710024

  • 国防科学技术大学光电科学与工程学院,长沙,410073

  • 西北核技术研究所,西安,710024

Jamming of visible light array CCD imaging system by infrared laser

  • 摘要: 采用连续波红外激光对可见光面阵CCD成像系统进行了干扰实验,观察到饱和串扰、全屏饱和等干扰现象,并测到串扰阈值小于2.0×102 W/cm2,全屏饱和阈值为1.2×104 W/cm2.通过分析CCD输出电压、视频信号,提出基于有效干扰面积的干扰效果评估方法,并利用该方法对干扰面积与激光功率密度、辐照时间之间的关系进行了半定量分析.结果显示:激光功率密度对干扰效果的影响较大,而辐照时间在0.5～2.0 s之间时,辐照时间对CCD干扰效果的影响不明显.
  • 加载中
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  705
  • HTML全文浏览数:  76
  • PDF下载数:  107
  • 施引文献:  0
出版历程
  • 刊出日期:  2010-08-30

红外激光对可见光CCD成像系统的干扰

  • 国防科学技术大学光电科学与工程学院,长沙,410073;西北核技术研究所,西安,710024
  • 国防科学技术大学光电科学与工程学院,长沙,410073
  • 西北核技术研究所,西安,710024

摘要: 采用连续波红外激光对可见光面阵CCD成像系统进行了干扰实验,观察到饱和串扰、全屏饱和等干扰现象,并测到串扰阈值小于2.0×102 W/cm2,全屏饱和阈值为1.2×104 W/cm2.通过分析CCD输出电压、视频信号,提出基于有效干扰面积的干扰效果评估方法,并利用该方法对干扰面积与激光功率密度、辐照时间之间的关系进行了半定量分析.结果显示:激光功率密度对干扰效果的影响较大,而辐照时间在0.5～2.0 s之间时,辐照时间对CCD干扰效果的影响不明显.

English Abstract

    全文HTML

参考文献 (0)

目录

/

返回文章
返回