2.5 keV 能点多层膜KB显微镜成像性能
Imaging characteristics of 2.5 keV multilayer Kirkpatrick-Baez microscope
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摘要: 研究了Kirkpatrick-Baez(KB)显微镜成像系统的结构设计、元件制备.通过分析掠入射角、放大倍数和反射镜曲率半径对成像系统调制传递函数(MTF)的影响,确定了KB显微镜系统的初始结构参数,实现了2.5 keV能点多层膜KB显微镜的设计、制备以及装调,在神光Ⅱ强激光装置上完成了像质标定实验.结果表明:2.5 keV能点多层膜KB显微镜在100 μm视场内观测周期为20 μm平面调制靶时的MTF高于0.6,与OMEGA装置同类型KB系统的空间分辨能力相当,明显优于现有的针孔相机和点投影成像技术.该显微镜与条纹相机配合,已成功实现对短扰动波长平面调制靶烧蚀演化行为的动态诊断.
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关键词:
- Kirkpatrick-Baez显微镜 /
- 等离子体诊断 /
- 调制传递函数 /
- 平面调制靶 /
- 流体力学不稳定性
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