不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估

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沈敏, 肖沙里, 张流强, 曹玉琳, 陈宇晓. 2014: 不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估, 强激光与粒子束, 26(3): 204-209. doi: 10.3788/HPLPB201426.034001
引用本文: 沈敏, 肖沙里, 张流强, 曹玉琳, 陈宇晓. 2014: 不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估, 强激光与粒子束, 26(3): 204-209. doi: 10.3788/HPLPB201426.034001
Shen Min, Xiao Shali, Zhang Liuqiang, Cao Yulin, Chen Yuxiao. 2014: Experiment and simulation of performance characteristics for pixellated CdZnTe detectors with various thickness, High Power Lase and Particle Beams, 26(3): 204-209. doi: 10.3788/HPLPB201426.034001
Citation: Shen Min, Xiao Shali, Zhang Liuqiang, Cao Yulin, Chen Yuxiao. 2014: Experiment and simulation of performance characteristics for pixellated CdZnTe detectors with various thickness, High Power Lase and Particle Beams, 26(3): 204-209. doi: 10.3788/HPLPB201426.034001

不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估

Experiment and simulation of performance characteristics for pixellated CdZnTe detectors with various thickness

  • 摘要: 碲锌镉材料(CdZnTe)是目前探测X射线和γ射线的最好材料之一.将241Am和137Cs辐射源作用于像素CdZnTe探测器,通过实验和仿真分别得到能量谱估计、能量分辨率和峰值效率.由实验和仿真结果得出:在662 keV的高能量下,厚度较大的CdZnTe探测器可获得更高的能量分辨率和峰值效率,但在59.5keV低能处会出现拖尾升高和电荷损失的现象;厚度较薄的探测器在低能处的特性反而更好.
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出版历程
  • 刊出日期:  2014-03-30

不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估

  • 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400030;重庆工商职业学院,重庆合川401520
  • 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆,400030
  • 中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳,621900

摘要: 碲锌镉材料(CdZnTe)是目前探测X射线和γ射线的最好材料之一.将241Am和137Cs辐射源作用于像素CdZnTe探测器,通过实验和仿真分别得到能量谱估计、能量分辨率和峰值效率.由实验和仿真结果得出:在662 keV的高能量下,厚度较大的CdZnTe探测器可获得更高的能量分辨率和峰值效率,但在59.5keV低能处会出现拖尾升高和电荷损失的现象;厚度较薄的探测器在低能处的特性反而更好.

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