低速84Kr15+,17+离子轰击GaAs单晶

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杨变, 杨治虎, 徐秋梅, 郭义盼, 武晔虹, 宋张勇, 蔡晓红. 2014: 低速84Kr15+,17+离子轰击GaAs单晶, 物理学报, null(5): 053201. doi: 10.7498/aps.63.053201
引用本文: 杨变, 杨治虎, 徐秋梅, 郭义盼, 武晔虹, 宋张勇, 蔡晓红. 2014: 低速84Kr15+,17+离子轰击GaAs单晶, 物理学报, null(5): 053201. doi: 10.7498/aps.63.053201
Yang Bian, Yang Zhi-Hu, Xu Qiu-Mei, Guo Yi-Pan, Wu Ye-Hong, Song Zhang-Yong, Cai Xiao-Hong. 2014: Slow ions 84Kr15+,17+ bombardment on GaAs, Acta Physica Sinica, null(5): 053201. doi: 10.7498/aps.63.053201
Citation: Yang Bian, Yang Zhi-Hu, Xu Qiu-Mei, Guo Yi-Pan, Wu Ye-Hong, Song Zhang-Yong, Cai Xiao-Hong. 2014: Slow ions 84Kr15+,17+ bombardment on GaAs, Acta Physica Sinica, null(5): 053201. doi: 10.7498/aps.63.053201

低速84Kr15+,17+离子轰击GaAs单晶

Slow ions 84Kr15+,17+ bombardment on GaAs

  • 摘要: 用345 keV的Kr15+和340 keV的Kr17+离子以45?角入射n型GaAs单晶(100)面,测量了表面形貌的变化和发射的375-500 nm Ga I和Kr II的特征光谱线. Krq+(q =15,17)离子轰击后表面形貌的变化主要取决于入射离子的电荷态q.离子沉积到靶表面的能量引起Ga原子激发,其辐射光谱为Ga I 403.2 nm和Ga I 417.0 nm.入射离子中性化过程中俘获GaAs导带电子形成高激发态原子,通过级联退激填充3p,4d等空穴, P壳层电子跃迁发射谱线为Kr II 410.0 nm, Kr II 430.4 nm, Kr II 434.0 nm和Kr II 486.0 nm, Kr II 486.0 nm为较强谱线.实验结果表明,入射离子与GaAs单晶相互作用发射的可见光产额与入射离子的电荷态密切相关,较高电荷态Kr17+离子入射产生的光辐射产额大约为Kr15+离子的两倍.
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出版历程
  • 刊出日期:  2014-03-15

低速84Kr15+,17+离子轰击GaAs单晶

  • 中国科学院近代物理研究所,兰州 730000; 中国科学院大学,北京 100049
  • 中国科学院近代物理研究所,兰州,730000

摘要: 用345 keV的Kr15+和340 keV的Kr17+离子以45?角入射n型GaAs单晶(100)面,测量了表面形貌的变化和发射的375-500 nm Ga I和Kr II的特征光谱线. Krq+(q =15,17)离子轰击后表面形貌的变化主要取决于入射离子的电荷态q.离子沉积到靶表面的能量引起Ga原子激发,其辐射光谱为Ga I 403.2 nm和Ga I 417.0 nm.入射离子中性化过程中俘获GaAs导带电子形成高激发态原子,通过级联退激填充3p,4d等空穴, P壳层电子跃迁发射谱线为Kr II 410.0 nm, Kr II 430.4 nm, Kr II 434.0 nm和Kr II 486.0 nm, Kr II 486.0 nm为较强谱线.实验结果表明,入射离子与GaAs单晶相互作用发射的可见光产额与入射离子的电荷态密切相关,较高电荷态Kr17+离子入射产生的光辐射产额大约为Kr15+离子的两倍.

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