基于ICP-MS的二氧化硅亚微米粒子特征参数分析

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孙传强, 龚子珊, 蒋学慧, 汪曣, 赵学玒. 2018: 基于ICP-MS的二氧化硅亚微米粒子特征参数分析, 质谱学报, 39(5): 567-572. doi: 10.7538/zpxb.2017.0164
引用本文: 孙传强, 龚子珊, 蒋学慧, 汪曣, 赵学玒. 2018: 基于ICP-MS的二氧化硅亚微米粒子特征参数分析, 质谱学报, 39(5): 567-572. doi: 10.7538/zpxb.2017.0164
SUN Chuan-qiang, GONG Zi-shan, JIANG Xue-hui, WANG Yan, ZHAO Xue-hong. 2018: Analysis of Characteristic Parameters of Sub-micron Silicon Dioxide Particles by ICP-MS, Journal of Chinese Mass Spectrometry Society, 39(5): 567-572. doi: 10.7538/zpxb.2017.0164
Citation: SUN Chuan-qiang, GONG Zi-shan, JIANG Xue-hui, WANG Yan, ZHAO Xue-hong. 2018: Analysis of Characteristic Parameters of Sub-micron Silicon Dioxide Particles by ICP-MS, Journal of Chinese Mass Spectrometry Society, 39(5): 567-572. doi: 10.7538/zpxb.2017.0164

基于ICP-MS的二氧化硅亚微米粒子特征参数分析

Analysis of Characteristic Parameters of Sub-micron Silicon Dioxide Particles by ICP-MS

  • 摘要: 将电感耦合等离子体质谱仪 (ICP-MS) 配合外部质谱信号采集存储装置, 用于研究表征亚微米颗粒粒径和浓度参数.在模拟采集模式下, 以3002 000nm粒径的SiO2粒子为例, 通过优化进样系统及仪器的工作参数, 分析了样品提取速率和雾化气流速对单颗粒质谱信号强度的影响.在优化的实验条件下, SiO2颗粒粒径部分检测限为233nm, 对300900nm粒径粒子测量的线性相关系数大于0.99, 但对1 500、2 000nm粒径粒子的检测结果出现明显偏差.论证了利用样品传输效率测量悬浮液粒子浓度的可行性, 并将ICP-MS的粒径测量结果与扫描电镜法 (SEM) 、光子相关光谱法 (PCS) 的测量结果进行比较, 3种方法对于粒径小于900nm粒子的测定结果基本一致, 且具有相似的测量精度.该方法分析速度快、结果准确, 可用于SiO2亚微米粒子粒径、浓度参数的测量.
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出版历程
  • 刊出日期:  2018-10-28

基于ICP-MS的二氧化硅亚微米粒子特征参数分析

  • 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072
  • 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津 300072;天津市生物医学检测技术与仪器重点实验室,天津 300072

摘要: 将电感耦合等离子体质谱仪 (ICP-MS) 配合外部质谱信号采集存储装置, 用于研究表征亚微米颗粒粒径和浓度参数.在模拟采集模式下, 以3002 000nm粒径的SiO2粒子为例, 通过优化进样系统及仪器的工作参数, 分析了样品提取速率和雾化气流速对单颗粒质谱信号强度的影响.在优化的实验条件下, SiO2颗粒粒径部分检测限为233nm, 对300900nm粒径粒子测量的线性相关系数大于0.99, 但对1 500、2 000nm粒径粒子的检测结果出现明显偏差.论证了利用样品传输效率测量悬浮液粒子浓度的可行性, 并将ICP-MS的粒径测量结果与扫描电镜法 (SEM) 、光子相关光谱法 (PCS) 的测量结果进行比较, 3种方法对于粒径小于900nm粒子的测定结果基本一致, 且具有相似的测量精度.该方法分析速度快、结果准确, 可用于SiO2亚微米粒子粒径、浓度参数的测量.

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