原位电子显微学探索固体中的离子迁移行为
Probing ion migration behavior in solids by in situ electron microscopy
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引用本文: | 陈树林, 高鹏. 2019: 原位电子显微学探索固体中的离子迁移行为, 物理, 48(3): 168-179. doi: 10.7693/wl20190306 |
Citation: | CHEN Shu-Lin, GAO Peng. 2019: Probing ion migration behavior in solids by in situ electron microscopy, Physics, 48(3): 168-179. doi: 10.7693/wl20190306 |