扫描探针显微术与纳米科技
SPM and Nano Science and Technology
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摘要: 扫描探针显微术(Scanning Probe Microscopy,SPM)是80年代初发展起来的一类新型的表面研究新技术,其核心思想是利用探针尖端与表面原子间的不同种类的局域相互作用来测量表面原子结构和电子结构.它的出现使得纳米科技在近十年来得到了突飞猛进的发展.
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