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THGEM探测器X光斑寻迹和位置分辨实验研究

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刘川凤, 周晓娟, 周健荣, 鲁黎明, 朱林, 何聪, 谭莹莹, 许虹, 谢宇广, 王晓冬, 吴金杰, 陈元柏, 孙志嘉. 2018: THGEM探测器X光斑寻迹和位置分辨实验研究, 原子核物理评论, 35(1): 61-65. doi: 10.11804/NuclPhysRev.35.01.061
引用本文: 刘川凤, 周晓娟, 周健荣, 鲁黎明, 朱林, 何聪, 谭莹莹, 许虹, 谢宇广, 王晓冬, 吴金杰, 陈元柏, 孙志嘉. 2018: THGEM探测器X光斑寻迹和位置分辨实验研究, 原子核物理评论, 35(1): 61-65. doi: 10.11804/NuclPhysRev.35.01.061
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LIU Chuanfeng, ZHOU Xiaojuan, ZHOU Jianrong, LU Liming, ZHU Lin, HE Cong, TAN Yingying, XU Hong, XIE Yuguang, WANG Xiaodong, WU Jinjie, CHEN Yuanbo, SUN Zhijia. 2018: Research on the X-ray Spot Tracing and the Position Resolution of THGEM Detector, Nuclear Physics Review, 35(1): 61-65. doi: 10.11804/NuclPhysRev.35.01.061
Citation: LIU Chuanfeng, ZHOU Xiaojuan, ZHOU Jianrong, LU Liming, ZHU Lin, HE Cong, TAN Yingying, XU Hong, XIE Yuguang, WANG Xiaodong, WU Jinjie, CHEN Yuanbo, SUN Zhijia. 2018: Research on the X-ray Spot Tracing and the Position Resolution of THGEM Detector, Nuclear Physics Review, 35(1): 61-65. doi: 10.11804/NuclPhysRev.35.01.061
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THGEM探测器X光斑寻迹和位置分辨实验研究

  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞材料基因高等理工研究院,广东东莞523803;东莞中子科学中心,广东东莞523803

  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞中子科学中心,广东东莞523803

  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞中子科学中心,广东东莞523803;南华大学核科学技术学院,湖南衡阳421000

  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;核探测与核电子学国家重点实验室,北京100049

  • 南华大学核科学技术学院,湖南衡阳,421000

  • 中国计量科学研究院,北京,100029

  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞中子科学中心,广东东莞523803;核探测与核电子学国家重点实验室,北京100049

Research on the X-ray Spot Tracing and the Position Resolution of THGEM Detector

  • 摘要: 介绍了一种基于THGEM的X射线光斑寻迹探测器,用于X射线单光子计量技术研究和测量,探测器有效面积200 mm×200 mm,采用128路基于ASIC和FPGA的高速读出电子学,探测器分为中间高分辨区和外围低分辨区两部分,两部分共用一套读出电子学.实验在中国计量科学研究院利用X光机产生的束线,测试光斑位置、光斑精细分布以及探测器的位置分辨.实验结果表明,探测器实现了同时对光斑寻迹和光斑的精细测量,探测器中间高分辨区x方向的位置分辨率为0.63 mm(FWHM),y方向位置分辨率为0.62mm(FWHM),探测器各项性能指标均达到了预期目标.
    Abstract: This paper introduces the detector of X-ray spot tracing based on the THGEM.It is used for X ray single photon measurement technology research and measurement with an effective area of 200 mm × 200 mm.The circuit board has 128 array of high speed readout electronics based on ASIC and FPGA.And it is divided into two parts:the middle area of high sensitive and the peripheral area of low sensitive.The two parts share a set of readout electronics.The experiment tests the position and the fine structure of the beam line produced by X ray machine in National Institute of Metrology.The results of the experimental show that the detector realizes both the spot tracing and the fine structure of the spot.The position resolution is 0.63 mm in x direction and 0.62 mm in y direction in high sensitive of the detector,which achieve the desired goal of preliminary design.
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出版历程
  • 刊出日期:  2018-01-01

THGEM探测器X光斑寻迹和位置分辨实验研究

  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞材料基因高等理工研究院,广东东莞523803;东莞中子科学中心,广东东莞523803
  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞中子科学中心,广东东莞523803
  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞中子科学中心,广东东莞523803;南华大学核科学技术学院,湖南衡阳421000
  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;核探测与核电子学国家重点实验室,北京100049
  • 南华大学核科学技术学院,湖南衡阳,421000
  • 中国计量科学研究院,北京,100029
  • 中国科学院高能物理研究所,北京100049;东莞中子科学中心,广东东莞523803;核探测与核电子学国家重点实验室,北京100049

摘要: 介绍了一种基于THGEM的X射线光斑寻迹探测器,用于X射线单光子计量技术研究和测量,探测器有效面积200 mm×200 mm,采用128路基于ASIC和FPGA的高速读出电子学,探测器分为中间高分辨区和外围低分辨区两部分,两部分共用一套读出电子学.实验在中国计量科学研究院利用X光机产生的束线,测试光斑位置、光斑精细分布以及探测器的位置分辨.实验结果表明,探测器实现了同时对光斑寻迹和光斑的精细测量,探测器中间高分辨区x方向的位置分辨率为0.63 mm(FWHM),y方向位置分辨率为0.62mm(FWHM),探测器各项性能指标均达到了预期目标.

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