HIRFL-CSR实验环中束流损失机制及寿命研究
Loss Mechanism and Lifetime of Ion Beam in HIRFL-CSRe
-
摘要: 分析了在储存环中回旋的离子束与残余气体分子、内靶和冷却电子束相互作用时的损失机制及相应的束流寿命, 针对兰州重离子加速器冷却储存环实验环内靶模式, 计算了50-500 MeV/u 12C6+, 36Ar18+, 132Xe54+和 238U92+等束流在各种损失机制影响下所对应的束流寿命和总的束流寿命.结果表明: 影响束流寿命的主要因素是与内靶分子(原子)之间的电荷交换及与冷却电子束之间的辐射复合; 对于重离子束 132Xe54+和 238U92+, 与冷却电子束之间的辐射复合是影响其储存寿命的主要因素.
-
关键词:
- HIRFL-CSR实验环 /
- 离子束 /
- 束流寿命
-
-
计量
- 文章访问数: 377
- HTML全文浏览数: 80
- PDF下载数: 7
- 施引文献: 0