32Si半衰期的加速器质谱测量方法研究
Measurement on the Half-Life of 32Si by AMS at CIAE
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摘要: 32Si是宇宙射线与空气中的Ar通过散裂反应产生的长寿命放射性核素,利用32Si可以开展广泛的应用研究.然而作为放射性核素关键数据的32Si半衰期数据仍然存在较大的偏差,这在很大程度上阻碍了32Si 的应用.本工作利用中国原子能科学研究院的加速器质谱系统开展了32 Si半衰期的测量.通过反应堆辐照Mg2 P2 O7生产32Si并制备出用于加速器质谱测量和活度测量的样品;利用加速器质谱技术进行了32Si/Si绝对比值的测定;通过液闪对样品进行了放射性活度测量,从而实现了32Si半衰期的测定,得到32Si的半衰期值为(182±16)a.
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