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二次电子发射对质子束流测量精度的影响

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张忠兵, 陈亮, 阮金陆, 刘金良, 欧阳晓平, 叶鸣, 贺永宁, 刘军, 刘林月. 2014: 二次电子发射对质子束流测量精度的影响, 强激光与粒子束, 26(9): 239-243. doi: 10.11884/HPLPB201426.094004
引用本文: 张忠兵, 陈亮, 阮金陆, 刘金良, 欧阳晓平, 叶鸣, 贺永宁, 刘军, 刘林月. 2014: 二次电子发射对质子束流测量精度的影响, 强激光与粒子束, 26(9): 239-243. doi: 10.11884/HPLPB201426.094004
shu
2014: Effects of secondary electron emission on high-precision intensity measurements of proton, High Power Lase and Particle Beams, 26(9): 239-243. doi: 10.11884/HPLPB201426.094004
Citation: 2014: Effects of secondary electron emission on high-precision intensity measurements of proton, High Power Lase and Particle Beams, 26(9): 239-243. doi: 10.11884/HPLPB201426.094004
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二次电子发射对质子束流测量精度的影响

  • 西北核技术研究所,西安,710024

  • 西安交通大学电子与信息工程学院,西安,710049

Effects of secondary electron emission on high-precision intensity measurements of proton

  • 摘要: 二次电子发射直接影响法拉第探测器测量质子束流的精度,减小或消除二次电子发射的影响是提高束流测量精度的关键.根据二次电子补偿原理设计了二次电子补偿型同轴法拉第探测器,实验发现探测器测量质子束流强度时不能完全实现二次电子补偿.为改进和完善探测器的设计,从理论上分析了补偿片未能完全消除二次电子对束流测量影响的原因,是由于补偿片前向发射二次电子数目大于收集极后向发射二次电子数目所致.为此设计了质子束穿过金属箔发射二次电子测量装置,测量得到能量为5～10 MeV质子穿过10 μm厚铜箔时前向与后向发射二次电子产额,验证了理论分析的正确性.
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出版历程
  • 刊出日期:  2014-09-30

二次电子发射对质子束流测量精度的影响

  • 西北核技术研究所,西安,710024
  • 西安交通大学电子与信息工程学院,西安,710049

摘要: 二次电子发射直接影响法拉第探测器测量质子束流的精度,减小或消除二次电子发射的影响是提高束流测量精度的关键.根据二次电子补偿原理设计了二次电子补偿型同轴法拉第探测器,实验发现探测器测量质子束流强度时不能完全实现二次电子补偿.为改进和完善探测器的设计,从理论上分析了补偿片未能完全消除二次电子对束流测量影响的原因,是由于补偿片前向发射二次电子数目大于收集极后向发射二次电子数目所致.为此设计了质子束穿过金属箔发射二次电子测量装置,测量得到能量为5～10 MeV质子穿过10 μm厚铜箔时前向与后向发射二次电子产额,验证了理论分析的正确性.

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