低能质子辐照ZnO/silicone白漆产生微观损伤的红外光谱研究
Study on damage effects of low energy protons on ZnO/silicone white paint using infrared spectrum
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摘要: 通过空间综合辐照模拟设备对能量小于200 keV质子辐照下ZrO/silicone白漆光学性能变化及损伤机理进行研究.结果表明,ZnO/smcone白漆的光学性能退化主要发生在可见光区,太阳吸收比随质子辐照能量、注量的增加而增大.借助傅里叶变换红外光谱分析技术研究了质子辐照ZnO/smcone白漆时有机硅树脂的光学性能退化机理.质子辐照使ZnO/silicone白漆中游离氧含量增加,氧化硅原子上的有机取代基使Si-C链断裂,并生成活性羟基.而这种活性羟基能促使有机硅树脂内Si-O-si键的裂解.同时Si-O-Si链内氧原子未成键的孤对电子与邻近硅原子的3d空轨道配位,降低了π#轨道的能量,提高了对光吸收的几率,增强了n→π*电子跃迁,使吸收带红移,从而导致ZnO/silicone白漆光学性能退化.
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关键词:
- 质子辐照 /
- ZnO/silicone白漆 /
- 光学性能退化 /
- 红外光谱 /
- 损伤效应
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