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长导通等离子体开关断路过程的粒子模拟

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陈林, 姜巍, 王文斗. 2007: 长导通等离子体开关断路过程的粒子模拟, 强激光与粒子束, 19(12): 2103-2107.
引用本文: 陈林, 姜巍, 王文斗. 2007: 长导通等离子体开关断路过程的粒子模拟, 强激光与粒子束, 19(12): 2103-2107.
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CHEN Lin, JIANG Wei, WANG Wen-dou. 2007: Particle simulation of opening process in long conduction time plasma opening switch, High Power Lase and Particle Beams, 19(12): 2103-2107.
Citation: CHEN Lin, JIANG Wei, WANG Wen-dou. 2007: Particle simulation of opening process in long conduction time plasma opening switch, High Power Lase and Particle Beams, 19(12): 2103-2107.
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长导通等离子体开关断路过程的粒子模拟

  • 中国工程物理研究院,流体物理研究所,四川,绵阳,621900

Particle simulation of opening process in long conduction time plasma opening switch

  • 摘要: 利用PIC(particle-in-cell) 粒子模拟方法对长导通等离子体断路开关的断路过程进行了模拟研究.介绍了计算模型的建立和边界的处理.模拟结果揭示了断路间隙的形成过程和机制,并据此对等离子体断路开关断路阶段的现有模型进行了定性的修正,认为断路过程中Hall融蚀和静电融蚀机制将同时存在,静电融蚀在开关最终的断路中占主导作用,且静电融蚀是由于磁场排斥引起的.
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出版历程
  • 刊出日期:  2007-12-30

长导通等离子体开关断路过程的粒子模拟

  • 中国工程物理研究院,流体物理研究所,四川,绵阳,621900

摘要: 利用PIC(particle-in-cell) 粒子模拟方法对长导通等离子体断路开关的断路过程进行了模拟研究.介绍了计算模型的建立和边界的处理.模拟结果揭示了断路间隙的形成过程和机制,并据此对等离子体断路开关断路阶段的现有模型进行了定性的修正,认为断路过程中Hall融蚀和静电融蚀机制将同时存在,静电融蚀在开关最终的断路中占主导作用,且静电融蚀是由于磁场排斥引起的.

English Abstract

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