狭缝法测量X射线斑点大小

上一篇

下一篇

李勤, 石金水, 禹海军, 王莉萍, 何晖. 2006: 狭缝法测量X射线斑点大小, 强激光与粒子束, 18(10): 1691-1694.
引用本文: 李勤, 石金水, 禹海军, 王莉萍, 何晖. 2006: 狭缝法测量X射线斑点大小, 强激光与粒子束, 18(10): 1691-1694.
2006: Slit X-ray spot size measurement technique, High Power Lase and Particle Beams, 18(10): 1691-1694.
Citation: 2006: Slit X-ray spot size measurement technique, High Power Lase and Particle Beams, 18(10): 1691-1694.

狭缝法测量X射线斑点大小

Slit X-ray spot size measurement technique

  • 摘要: 应用狭缝光阑成像法测量X射线斑点大小,通过狭缝成像获得光源的线扩展函数和调制传递函数MTF,而后从MTF为0.5所对应的空间频率之值确定出光源的光斑大小.应用该方法测量得到12 MeV 直线感应加速器(LIA)X射线斑点大小为3.2 mm,及磁透镜在不同焦距下的X射线斑点大小.该项测量为12 MeV LIA电子束聚焦调试实验提供有效判据.
  • 加载中
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  648
  • HTML全文浏览数:  116
  • PDF下载数:  34
  • 施引文献:  0
出版历程
  • 刊出日期:  2006-10-30

狭缝法测量X射线斑点大小

  • 中国工程物理研究院,流体物理研究所,四川,绵阳,621900

摘要: 应用狭缝光阑成像法测量X射线斑点大小,通过狭缝成像获得光源的线扩展函数和调制传递函数MTF,而后从MTF为0.5所对应的空间频率之值确定出光源的光斑大小.应用该方法测量得到12 MeV 直线感应加速器(LIA)X射线斑点大小为3.2 mm,及磁透镜在不同焦距下的X射线斑点大小.该项测量为12 MeV LIA电子束聚焦调试实验提供有效判据.

English Abstract

参考文献 (0)

目录

/

返回文章
返回