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500 fs超短脉冲激光对CCD探测器的破坏效应

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黄绍艳, 张永生, 唐本奇, 张勇, 王祖军, 肖志刚. 2005: 500 fs超短脉冲激光对CCD探测器的破坏效应, 强激光与粒子束, 17(10): 1445-1448.
引用本文: 黄绍艳, 张永生, 唐本奇, 张勇, 王祖军, 肖志刚. 2005: 500 fs超短脉冲激光对CCD探测器的破坏效应, 强激光与粒子束, 17(10): 1445-1448.
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HUANG Shao-yan, ZHANG Yong-sheng, TANG Ben-qi, ZHANG Yong, WANG Zu-jun, XIAO Zhi-gang. 2005: Damaged effect on CCD detector irradiated by 500 fs laser pulse, High Power Lase and Particle Beams, 17(10): 1445-1448.
Citation: HUANG Shao-yan, ZHANG Yong-sheng, TANG Ben-qi, ZHANG Yong, WANG Zu-jun, XIAO Zhi-gang. 2005: Damaged effect on CCD detector irradiated by 500 fs laser pulse, High Power Lase and Particle Beams, 17(10): 1445-1448.
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500 fs超短脉冲激光对CCD探测器的破坏效应

  • 西北核技术研究所,陕西,西安,710024

Damaged effect on CCD detector irradiated by 500 fs laser pulse

  • 摘要: 采用脉宽500 fs,脉冲能量250 μJ的超短脉冲激光辐照线阵CCD探测器,观察到了CCD从线性响应到像元饱和、饱和串音直至硬损伤的整个过程,并着重对两种辐照能量密度下的硬损伤机理进行了理论分析.结果表明:激光能量密度为0.45 μJ/cm2时,达到像元饱和;能量密度为0.14 J/cm2时,辐照6个脉冲后实现了CCD器件的硬损伤,硬损伤源于晶格被加热并汽化形成等离子体;能量密度为1.41 J/cm2时,单个脉冲就使CCD器件的输出波形无法辨认,2个脉冲后CCD器件没有任何信号输出,硬破坏源于电荷分离形成的电场库仑力.
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出版历程
  • 刊出日期:  2005-10-30

500 fs超短脉冲激光对CCD探测器的破坏效应

  • 西北核技术研究所,陕西,西安,710024

摘要: 采用脉宽500 fs,脉冲能量250 μJ的超短脉冲激光辐照线阵CCD探测器,观察到了CCD从线性响应到像元饱和、饱和串音直至硬损伤的整个过程,并着重对两种辐照能量密度下的硬损伤机理进行了理论分析.结果表明:激光能量密度为0.45 μJ/cm2时,达到像元饱和;能量密度为0.14 J/cm2时,辐照6个脉冲后实现了CCD器件的硬损伤,硬损伤源于晶格被加热并汽化形成等离子体;能量密度为1.41 J/cm2时,单个脉冲就使CCD器件的输出波形无法辨认,2个脉冲后CCD器件没有任何信号输出,硬破坏源于电荷分离形成的电场库仑力.

English Abstract

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