速调管离子噪声特性的模拟分析

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巩华荣, 宫玉彬, 唐昌建, 王文祥, 魏彦玉, 段兆云. 2005: 速调管离子噪声特性的模拟分析, 强激光与粒子束, 17(3): 431-435.
引用本文: 巩华荣, 宫玉彬, 唐昌建, 王文祥, 魏彦玉, 段兆云. 2005: 速调管离子噪声特性的模拟分析, 强激光与粒子束, 17(3): 431-435.
GONG Hua-rong, GONG Yu-bing, TANG Chang-jian, WANG Wen-xiang, WEI Yan-Yu, DUAN Zhao-yun. 2005: Simulation of ion noise character in klystron, High Power Lase and Particle Beams, 17(3): 431-435.
Citation: GONG Hua-rong, GONG Yu-bing, TANG Chang-jian, WANG Wen-xiang, WEI Yan-Yu, DUAN Zhao-yun. 2005: Simulation of ion noise character in klystron, High Power Lase and Particle Beams, 17(3): 431-435.

速调管离子噪声特性的模拟分析

Simulation of ion noise character in klystron

  • 摘要: 离子噪声已成为影响现代微波管性能的一个重要因素,采用一维混合模型研究了速调管的离子噪声,用自编的1维粒子模拟程序对速调管的离子噪声特性进行了分析.采用小信号近似,从理论上推导出了速调管离子噪声与相位畸变关系的表达式,表明微波管相位噪声直接来源于管内离子量的变化.模拟了有离子噪声时速调管的相位特性,对模拟过程做了离子诊断并与实验结果进行比较,证明了模拟过程的正确性.探讨了电子束电流、电压以及聚焦磁场对离子噪声的影响规律,束电流与束电压改变后,离子噪声的周期与大小相应改变,增大束电流,离子噪声幅度会下降,并趋于稳定,而在束电流不变的情况下,离子噪声存在一个最小值.束电流与束电压确定,存在最佳的磁场使离子噪声幅度最小.
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出版历程
  • 刊出日期:  2005-03-30

速调管离子噪声特性的模拟分析

  • 电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054
  • 四川大学,应用物理学院,四川,成都,610051

摘要: 离子噪声已成为影响现代微波管性能的一个重要因素,采用一维混合模型研究了速调管的离子噪声,用自编的1维粒子模拟程序对速调管的离子噪声特性进行了分析.采用小信号近似,从理论上推导出了速调管离子噪声与相位畸变关系的表达式,表明微波管相位噪声直接来源于管内离子量的变化.模拟了有离子噪声时速调管的相位特性,对模拟过程做了离子诊断并与实验结果进行比较,证明了模拟过程的正确性.探讨了电子束电流、电压以及聚焦磁场对离子噪声的影响规律,束电流与束电压改变后,离子噪声的周期与大小相应改变,增大束电流,离子噪声幅度会下降,并趋于稳定,而在束电流不变的情况下,离子噪声存在一个最小值.束电流与束电压确定,存在最佳的磁场使离子噪声幅度最小.

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