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子孔径拼接干涉检测中去倾斜处理技术

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张蓉竹, 杨春林, 许乔, 蔡邦维. 2004: 子孔径拼接干涉检测中去倾斜处理技术, 强激光与粒子束, 16(7): 879-882.
引用本文: 张蓉竹, 杨春林, 许乔, 蔡邦维. 2004: 子孔径拼接干涉检测中去倾斜处理技术, 强激光与粒子束, 16(7): 879-882.
shu
2004: Anti-tilting technology of the sub-aperture stitching interferograms, High Power Lase and Particle Beams, 16(7): 879-882.
Citation: 2004: Anti-tilting technology of the sub-aperture stitching interferograms, High Power Lase and Particle Beams, 16(7): 879-882.
shu

子孔径拼接干涉检测中去倾斜处理技术

  • 四川大学,电子信息学院光电系,四川,成都,610064

  • 成都精密光学工程研究中心,四川,成都,610041

Anti-tilting technology of the sub-aperture stitching interferograms

  • 摘要: 倾斜放置对大口径光学元件的检测有很大影响,为了防止在子孔径拼接干涉检测中倾斜所导致的数据丢失等严重后果,并且实现不同次检测的结果可以相互比较,提出了一种软件修正倾斜量的方法.通过对读出的图形数据进行反向倾斜来降低检测中的元件倾斜程度,避免了实际检测过程中手工操作无法达到极小角度修正的困难.通过实验,验证了该方法的可行性和有效性,实现了大口径光学元件正确的子孔径拼接检测,完成了多次检测结果之间的相互比较,结果表明,残差平均值仅为0.12λ(λ=633nm).
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出版历程
  • 刊出日期:  2004-07-30

子孔径拼接干涉检测中去倾斜处理技术

  • 四川大学,电子信息学院光电系,四川,成都,610064
  • 成都精密光学工程研究中心,四川,成都,610041

摘要: 倾斜放置对大口径光学元件的检测有很大影响,为了防止在子孔径拼接干涉检测中倾斜所导致的数据丢失等严重后果,并且实现不同次检测的结果可以相互比较,提出了一种软件修正倾斜量的方法.通过对读出的图形数据进行反向倾斜来降低检测中的元件倾斜程度,避免了实际检测过程中手工操作无法达到极小角度修正的困难.通过实验,验证了该方法的可行性和有效性,实现了大口径光学元件正确的子孔径拼接检测,完成了多次检测结果之间的相互比较,结果表明,残差平均值仅为0.12λ(λ=633nm).

English Abstract

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