X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用

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刘元琼, 罗青, 王明达. 2000: X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用, 强激光与粒子束, 12(1): 69-71.
引用本文: 刘元琼, 罗青, 王明达. 2000: X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用, 强激光与粒子束, 12(1): 69-71.
LIU Yuan-qiong, LUO Qing, WANG Ming-da. 2000: X-RAY MEASUREMENT OF ICF TARGET USING SURFACE PROFILER SCANNING, High Power Lase and Particle Beams, 12(1): 69-71.
Citation: LIU Yuan-qiong, LUO Qing, WANG Ming-da. 2000: X-RAY MEASUREMENT OF ICF TARGET USING SURFACE PROFILER SCANNING, High Power Lase and Particle Beams, 12(1): 69-71.

X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用

X-RAY MEASUREMENT OF ICF TARGET USING SURFACE PROFILER SCANNING

  • 摘要: 在ICF靶参数测量中,用接触X射线显微辐射照相法记录微球X射线图像,采用精密表面轮廓仪处理微球X射线图像,直接测量了单层微球壁厚.与光干涉法比较,两种方法测量结果相差小于0.3μm.
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出版历程
  • 刊出日期:  2000-01-30

X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用

  • 中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳市919-218信箱,621900

摘要: 在ICF靶参数测量中,用接触X射线显微辐射照相法记录微球X射线图像,采用精密表面轮廓仪处理微球X射线图像,直接测量了单层微球壁厚.与光干涉法比较,两种方法测量结果相差小于0.3μm.

English Abstract

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