808nm半导体激光芯片电光转换效率的温度特性机理研究

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宋云菲, 王贞福, 李特, 杨国文. 2017: 808nm半导体激光芯片电光转换效率的温度特性机理研究, 物理学报, 66(10): 101-106. doi: 10.7498/aps.66.104202
引用本文: 宋云菲, 王贞福, 李特, 杨国文. 2017: 808nm半导体激光芯片电光转换效率的温度特性机理研究, 物理学报, 66(10): 101-106. doi: 10.7498/aps.66.104202
Song Yun-Fei, Wang Zhen-Fu, Li We, Yang Guo-Wen. 2017: Efficiency analysis of 808 nm laser diode array under different operating temperatures, Acta Physica Sinica, 66(10): 101-106. doi: 10.7498/aps.66.104202
Citation: Song Yun-Fei, Wang Zhen-Fu, Li We, Yang Guo-Wen. 2017: Efficiency analysis of 808 nm laser diode array under different operating temperatures, Acta Physica Sinica, 66(10): 101-106. doi: 10.7498/aps.66.104202

808nm半导体激光芯片电光转换效率的温度特性机理研究

Efficiency analysis of 808 nm laser diode array under different operating temperatures

  • 摘要: 提高808 nm大功率半导体激光器电光转换效率具有重要的学术意义和商业价值,是实现器件小型化、轻量化、高可靠性的必要前提.本文以腔长1.5 mm的传导冷却封装808 nm半导体激光阵列为研究对象,在热沉温度-40-25℃范围内对其进行光电特性测试,对不同温度下电光转换效率的影响因子进行了实验研究和理论分析.结果表明:在-40℃环境温度下,最高电光转换效率从室温25℃时的56.7%提高至66.8%,内量子效率高达96.3%,载流子泄漏损耗的占比贡献由16.6%下降至3.1%.该研究对实现808 nm高效率半导体激光芯片的自主研发具有重要意义.
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出版历程
  • 刊出日期:  2017-05-30

808nm半导体激光芯片电光转换效率的温度特性机理研究

  • 中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安 710119;中国科学院大学,北京 100049
  • 中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安 710119
  • 中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安 710119;西安立芯光电科技有限公司,西安710077

摘要: 提高808 nm大功率半导体激光器电光转换效率具有重要的学术意义和商业价值,是实现器件小型化、轻量化、高可靠性的必要前提.本文以腔长1.5 mm的传导冷却封装808 nm半导体激光阵列为研究对象,在热沉温度-40-25℃范围内对其进行光电特性测试,对不同温度下电光转换效率的影响因子进行了实验研究和理论分析.结果表明:在-40℃环境温度下,最高电光转换效率从室温25℃时的56.7%提高至66.8%,内量子效率高达96.3%,载流子泄漏损耗的占比贡献由16.6%下降至3.1%.该研究对实现808 nm高效率半导体激光芯片的自主研发具有重要意义.

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