低温下单根ZnO纳米带电学性质的研究*

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李铭杰, 高红, 李江禄, 温静, 李凯, 张伟光. 2013: 低温下单根ZnO纳米带电学性质的研究*, 物理学报, null(18): 422-425. doi: 10.7498/aps.62.187302
引用本文: 李铭杰, 高红, 李江禄, 温静, 李凯, 张伟光. 2013: 低温下单根ZnO纳米带电学性质的研究*, 物理学报, null(18): 422-425. doi: 10.7498/aps.62.187302
Li Ming-Jie, Gao Hong, Li Jiang-Lu, Wen Jing, Li Kai, Zhang Wei-Guang. 2013: Electrical properties of single ZnO nanobelt in low temperature, Acta Physica Sinica, null(18): 422-425. doi: 10.7498/aps.62.187302
Citation: Li Ming-Jie, Gao Hong, Li Jiang-Lu, Wen Jing, Li Kai, Zhang Wei-Guang. 2013: Electrical properties of single ZnO nanobelt in low temperature, Acta Physica Sinica, null(18): 422-425. doi: 10.7498/aps.62.187302

低温下单根ZnO纳米带电学性质的研究*

Electrical properties of single ZnO nanobelt in low temperature

  • 摘要: 用化学气相沉积法在硅衬底上合成了宽1μm左右、长数十微米的ZnO纳米带.采用微栅模板法得到单根ZnO纳米带半导体器件,由I-V 特性曲线测得室温下ZnO纳米带电阻约3 M?,电阻率约0.4?·cm.研究了在20-280 K温度范围内单根ZnO纳米带电阻随温度的变化.结果表明:在不同温度区间内电阻随温度变化趋势明显不同,存在两种不同的输运机制.在130-280 K较高的温度范围内,单根ZnO纳米带电子输运机制符合热激活输运机制,随着温度继续降低(<130 K),近邻跳跃传导为主导输运机制.
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出版历程
  • 刊出日期:  2013-09-30

低温下单根ZnO纳米带电学性质的研究*

  • 哈尔滨师范大学物理与电子工程学院,光电带隙材料省部共建教育部重点实验室,哈尔滨 150025

摘要: 用化学气相沉积法在硅衬底上合成了宽1μm左右、长数十微米的ZnO纳米带.采用微栅模板法得到单根ZnO纳米带半导体器件,由I-V 特性曲线测得室温下ZnO纳米带电阻约3 M?,电阻率约0.4?·cm.研究了在20-280 K温度范围内单根ZnO纳米带电阻随温度的变化.结果表明:在不同温度区间内电阻随温度变化趋势明显不同,存在两种不同的输运机制.在130-280 K较高的温度范围内,单根ZnO纳米带电子输运机制符合热激活输运机制,随着温度继续降低(<130 K),近邻跳跃传导为主导输运机制.

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