阵列型微波黑体的发射率分析

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金铭, 白明, 苗俊刚. 2012: 阵列型微波黑体的发射率分析, 物理学报, 61(16): 267-275.
引用本文: 金铭, 白明, 苗俊刚. 2012: 阵列型微波黑体的发射率分析, 物理学报, 61(16): 267-275.
2012: Emissivity study of the array shaped blackbody in the microwave band, Acta Physica Sinica, 61(16): 267-275.
Citation: 2012: Emissivity study of the array shaped blackbody in the microwave band, Acta Physica Sinica, 61(16): 267-275.

阵列型微波黑体的发射率分析

Emissivity study of the array shaped blackbody in the microwave band

  • 摘要: 在微波波段,用于标定温度和辐射功率的发射率接近于1的标准发射率器件,即微波频段的黑体,结构形式一般为表面涂覆吸波材料的金属锥体阵列.这种黑体器件常用于为微波辐射计提供参考亮温,要求具有高发射率和均匀的温度分布.对此类黑体器件的发射率评估主要基于基尔霍夫热平衡定律,即通过评估反射率来确定发射率.已报道的研究集中在黑体发射率随频率的变化趋势,较少针对其随方向和极化状态的变化趋势.本文针对此类周期型排布的黑体,提出基于Floquet模式分析的反射率评估方法,相比己报道的基于后向散射的评估方法,具有更大的适用范围.基于这种方法,对某黑体的发射率随频率、角度和极化状态的变化规律进行了计算分析.分析结果表明:此黑体发射率在X到K。波段内随频率提高而增大;在发射率较低的低频处,垂直极化与水平极化的发射率随俯仰角的变化趋势不同,并且存在垂直极化发射率随俯仰角增大而明显降低的现象.这些规律均与其物理上低频段内涂层对电磁波的衰减特性相符合.
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出版历程
  • 刊出日期:  2012-08-30

阵列型微波黑体的发射率分析

  • 北京航空航天大学电子信息工程学院,北京,100191
  • 北京航空航天大学电子信息工程学院,北京100191 西安空间无线电技术研究所空间微波技术重点实验室,西安710100

摘要: 在微波波段,用于标定温度和辐射功率的发射率接近于1的标准发射率器件,即微波频段的黑体,结构形式一般为表面涂覆吸波材料的金属锥体阵列.这种黑体器件常用于为微波辐射计提供参考亮温,要求具有高发射率和均匀的温度分布.对此类黑体器件的发射率评估主要基于基尔霍夫热平衡定律,即通过评估反射率来确定发射率.已报道的研究集中在黑体发射率随频率的变化趋势,较少针对其随方向和极化状态的变化趋势.本文针对此类周期型排布的黑体,提出基于Floquet模式分析的反射率评估方法,相比己报道的基于后向散射的评估方法,具有更大的适用范围.基于这种方法,对某黑体的发射率随频率、角度和极化状态的变化规律进行了计算分析.分析结果表明:此黑体发射率在X到K。波段内随频率提高而增大;在发射率较低的低频处,垂直极化与水平极化的发射率随俯仰角的变化趋势不同,并且存在垂直极化发射率随俯仰角增大而明显降低的现象.这些规律均与其物理上低频段内涂层对电磁波的衰减特性相符合.

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