有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质

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周文飞, 叶小玲, 徐波, 张世著, 王占国. 2012: 有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质, 物理学报, 61(5): 152-159.
引用本文: 周文飞, 叶小玲, 徐波, 张世著, 王占国. 2012: 有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质, 物理学报, 61(5): 152-159.
2012: Study on properties of the H1 photonic crystal slab cavity using the effective index perturbation method, Acta Physica Sinica, 61(5): 152-159.
Citation: 2012: Study on properties of the H1 photonic crystal slab cavity using the effective index perturbation method, Acta Physica Sinica, 61(5): 152-159.

有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质

Study on properties of the H1 photonic crystal slab cavity using the effective index perturbation method

  • 摘要: 应用有效折射率微扰法结合二维/三维平面波方法研究了施主和受主缺陷型H1微腔的性质,使用修正后的有效折射率可以准确地计算微腔的腔模频率,与三维全矢量时域有限差分法的计算结果很相近.对于施主型H1微腔,以介质带边为匹配标准修正的有效折射率计算的微腔腔模频率误差最小,而对于受主型H1微腔,匹配标准则应设置为中间带.有效折射率微扰法既可以将计算的维度从三维降到二维,大大减少计算所需的计算机内存和时间,又可以保持计算结果的准确性,这对于光子晶体微腔的广泛应用具有非常重要的价值.
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出版历程
  • 刊出日期:  2012-03-15

有效折射率微扰法研究单缺陷光子晶体平板微腔的性质

  • 中国科学院半导体研究所,半导体材料科学重点实验室,北京100083/清华大学物理系,北京100084
  • 中国科学院半导体研究所,半导体材料科学重点实验室,北京100083

摘要: 应用有效折射率微扰法结合二维/三维平面波方法研究了施主和受主缺陷型H1微腔的性质,使用修正后的有效折射率可以准确地计算微腔的腔模频率,与三维全矢量时域有限差分法的计算结果很相近.对于施主型H1微腔,以介质带边为匹配标准修正的有效折射率计算的微腔腔模频率误差最小,而对于受主型H1微腔,匹配标准则应设置为中间带.有效折射率微扰法既可以将计算的维度从三维降到二维,大大减少计算所需的计算机内存和时间,又可以保持计算结果的准确性,这对于光子晶体微腔的广泛应用具有非常重要的价值.

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