长脉冲激光对组成CCD图像传感器的MOS光敏单元的硬破坏机理研究

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毕娟, 张喜和, 倪晓武. 2011: 长脉冲激光对组成CCD图像传感器的MOS光敏单元的硬破坏机理研究, 物理学报, 60(11): 332-337.
引用本文: 毕娟, 张喜和, 倪晓武. 2011: 长脉冲激光对组成CCD图像传感器的MOS光敏单元的硬破坏机理研究, 物理学报, 60(11): 332-337.
2011: Mechanism for long pulse laser-induced hard damage to the MOS pixel of CCD image sensor, Acta Physica Sinica, 60(11): 332-337.
Citation: 2011: Mechanism for long pulse laser-induced hard damage to the MOS pixel of CCD image sensor, Acta Physica Sinica, 60(11): 332-337.

长脉冲激光对组成CCD图像传感器的MOS光敏单元的硬破坏机理研究

Mechanism for long pulse laser-induced hard damage to the MOS pixel of CCD image sensor

  • 摘要: 以帧转移型面阵CCD图像传感器为例,采用有限元法研究了波长1.06μm,脉宽ms量级长脉冲Nd:YAG激光与组成CCD传感器的MOS光敏单元的作用过程及硬破坏机理.建立了长脉冲激光辐照MOS光敏单元的热力耦合模型,模拟了MOS光敏单元的温度分布和应力分布.研究结果表明:在长脉冲激光作用下,由于S层表面径向压应力超过其抗压强度引起MOS光敏单元出现了OS层间分裂,进而受径向、环向和轴向压应力的共同作用下,在光敏单元还未熔融时,层间分裂就扩大至光敏单元的整个OS层间.OS层间完全分裂会使光敏单元发生硬破坏,并造成CCD传感器中激光照射区的单个或一列光敏单元的功能完全失效.文章的研究结果可为CCD图像传感器的激光损伤及防护提供必要的理论依据.
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出版历程
  • 刊出日期:  2011-11-30

长脉冲激光对组成CCD图像传感器的MOS光敏单元的硬破坏机理研究

  • 长春理工大学理学院,长春,130022
  • 南京理工大学理学院,南京,210094

摘要: 以帧转移型面阵CCD图像传感器为例,采用有限元法研究了波长1.06μm,脉宽ms量级长脉冲Nd:YAG激光与组成CCD传感器的MOS光敏单元的作用过程及硬破坏机理.建立了长脉冲激光辐照MOS光敏单元的热力耦合模型,模拟了MOS光敏单元的温度分布和应力分布.研究结果表明:在长脉冲激光作用下,由于S层表面径向压应力超过其抗压强度引起MOS光敏单元出现了OS层间分裂,进而受径向、环向和轴向压应力的共同作用下,在光敏单元还未熔融时,层间分裂就扩大至光敏单元的整个OS层间.OS层间完全分裂会使光敏单元发生硬破坏,并造成CCD传感器中激光照射区的单个或一列光敏单元的功能完全失效.文章的研究结果可为CCD图像传感器的激光损伤及防护提供必要的理论依据.

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