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电子器件散粒噪声测试方法研究

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陈文豪, 杜磊, 庄奕琪, 包军林, 何亮, 陈华, 孙鹏, 王婷岚. 2011: 电子器件散粒噪声测试方法研究, 物理学报, 60(5): 159-166.
引用本文: 陈文豪, 杜磊, 庄奕琪, 包军林, 何亮, 陈华, 孙鹏, 王婷岚. 2011: 电子器件散粒噪声测试方法研究, 物理学报, 60(5): 159-166.
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Chen Wen-Hao, Du Lei, Zhuang Yi-Qi, Bao Jun-Lin, He Liang, Chen Hua, Sun Peng, Wang Ting-Lan. 2011: Shot noise measurement methods in electronic devices, Acta Physica Sinica, 60(5): 159-166.
Citation: Chen Wen-Hao, Du Lei, Zhuang Yi-Qi, Bao Jun-Lin, He Liang, Chen Hua, Sun Peng, Wang Ting-Lan. 2011: Shot noise measurement methods in electronic devices, Acta Physica Sinica, 60(5): 159-166.
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电子器件散粒噪声测试方法研究

  • 西安电子科技大学技术物理学院,西安,710071

  • 西安电子科技大学微电子学院,西安,710071

Shot noise measurement methods in electronic devices

  • 摘要: 本文分析了超导量子干涉器(SQUID)和超导一绝缘-超导(SIS)约瑟夫森结散粒噪声测试方法的应用局限性,提出了常规器件的散粒噪声测试方案.针对常规电子器件散粒噪声特性,研究了噪声测试基本条件,并建立了低温测试系统.通过采用双层屏蔽结构和超低噪声前置放大器,实现了较好的电磁干扰屏蔽和极低的背景噪声.在10 K温度下对常规二极管散粒噪声进行了测试,通过理论和测试结果对比分析,验证了测试系统的准确和可信性.
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出版历程
  • 刊出日期:  2011-05-30

电子器件散粒噪声测试方法研究

  • 西安电子科技大学技术物理学院,西安,710071
  • 西安电子科技大学微电子学院,西安,710071

摘要: 本文分析了超导量子干涉器(SQUID)和超导一绝缘-超导(SIS)约瑟夫森结散粒噪声测试方法的应用局限性,提出了常规器件的散粒噪声测试方案.针对常规电子器件散粒噪声特性,研究了噪声测试基本条件,并建立了低温测试系统.通过采用双层屏蔽结构和超低噪声前置放大器,实现了较好的电磁干扰屏蔽和极低的背景噪声.在10 K温度下对常规二极管散粒噪声进行了测试,通过理论和测试结果对比分析,验证了测试系统的准确和可信性.

English Abstract

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