In_2O_3/SnO_2薄膜的制备及光谱反射性能研究

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田启祥, 刘胜超. 2010: In_2O_3/SnO_2薄膜的制备及光谱反射性能研究, 物理学报, 59(1): 541-544.
引用本文: 田启祥, 刘胜超. 2010: In_2O_3/SnO_2薄膜的制备及光谱反射性能研究, 物理学报, 59(1): 541-544.
Tian Qi-Xiang, Liu Sheng-Chao. 2010: Fabrication and spectral reflective properties of In_2O_3/SnO_2 film, Acta Physica Sinica, 59(1): 541-544.
Citation: Tian Qi-Xiang, Liu Sheng-Chao. 2010: Fabrication and spectral reflective properties of In_2O_3/SnO_2 film, Acta Physica Sinica, 59(1): 541-544.

In_2O_3/SnO_2薄膜的制备及光谱反射性能研究

Fabrication and spectral reflective properties of In_2O_3/SnO_2 film

  • 摘要: 开展了在伪装网基布上镀In_2O_3/SnO_2薄膜的性能研究,系统分析了薄膜厚度对其光谱反射性能的影响;总结了薄膜厚度对In_2O_3/SnO_2薄膜表面形貌、光谱反射辐射性能的影响规律,为In_2O_3/SnO_2薄膜的红外伪装应用奠定了基础理论和实验依据.
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出版历程
  • 刊出日期:  2010-01-30

In_2O_3/SnO_2薄膜的制备及光谱反射性能研究

  • 解放军理工大学,南京,210007;总装工程兵科研一所,无锡,214035
  • 上海炬通实业有限公司,上海

摘要: 开展了在伪装网基布上镀In_2O_3/SnO_2薄膜的性能研究,系统分析了薄膜厚度对其光谱反射性能的影响;总结了薄膜厚度对In_2O_3/SnO_2薄膜表面形貌、光谱反射辐射性能的影响规律,为In_2O_3/SnO_2薄膜的红外伪装应用奠定了基础理论和实验依据.

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