GaSb/GaAs复合应力缓冲层上自组装InAs量子点的生长
Effect of the GaAs/GaSb combination strain-buffer layer on self-assembled InAs quantum dots
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摘要: 研究了GaSb/GaAs复合应力缓冲层上自组装生长的InAs量子点.在2 ML GaSb/1ML GaAs复合应力缓冲层上获得了高密度的、沿[100]方向择优分布量子点.随着复合应力缓冲层中GaAs层厚度的不同,量子点的密度可以在1.2×1010 cm-2和8×1010cm-2进行调控.适当增加GaAs层的厚度至5 ML,量子点的发光波长红移了约25 nm,室温下PL光谱波长接近1300 nm.
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关键词:
- 自组装量子点 /
- 分子束外延 /
- Ⅲ-V族化合物半导体
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计量
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