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外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

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王英龙, 魏同茹, 刘保亭, 邓泽超. 2007: 外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响, 物理学报, 56(5): 2931-2936. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.05.078
引用本文: 王英龙, 魏同茹, 刘保亭, 邓泽超. 2007: 外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响, 物理学报, 56(5): 2931-2936. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.05.078
shu
Wang Ying-Long, Wei Tong-Ru, Liu Bao-Ting, Deng Ze-Chao. 2007: Effect of thickness of epitaxial PbZr0.4Ti0.6O3 film on the physical properties, Acta Physica Sinica, 56(5): 2931-2936. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.05.078
Citation: Wang Ying-Long, Wei Tong-Ru, Liu Bao-Ting, Deng Ze-Chao. 2007: Effect of thickness of epitaxial PbZr0.4Ti0.6O3 film on the physical properties, Acta Physica Sinica, 56(5): 2931-2936. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.05.078
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外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

  • 河北大学物理科学与技术学院,保定,071002

Effect of thickness of epitaxial PbZr0.4Ti0.6O3 film on the physical properties

  • 摘要: 从Landau-Devonshire唯象理论出发,考虑到晶格失配导致的刃位错应力场与极化场的耦合,研究了在SrTiO3衬底上外延生长的PnZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其自发极化强度、电滞回线的影响.结果表明,产生刃位错的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜临界厚度为-1.27 nm,当薄膜厚度大于临界厚度时,在所形成的位错附近,极化强度出现急剧变化,形成自发极化强度明显减弱的"死层";随着薄膜厚度的减小,位错间距增大,"死层"厚度与薄膜总厚度之比增加.由薄膜电滞回线的变化情况可知,其剩余极化强度随着薄膜厚度的减小而逐渐减小.
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出版历程
  • 刊出日期:  2007-05-30

外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

  • 河北大学物理科学与技术学院,保定,071002

摘要: 从Landau-Devonshire唯象理论出发,考虑到晶格失配导致的刃位错应力场与极化场的耦合,研究了在SrTiO3衬底上外延生长的PnZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其自发极化强度、电滞回线的影响.结果表明,产生刃位错的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜临界厚度为-1.27 nm,当薄膜厚度大于临界厚度时,在所形成的位错附近,极化强度出现急剧变化,形成自发极化强度明显减弱的"死层";随着薄膜厚度的减小,位错间距增大,"死层"厚度与薄膜总厚度之比增加.由薄膜电滞回线的变化情况可知,其剩余极化强度随着薄膜厚度的减小而逐渐减小.

English Abstract

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