测量高温超导YBCO薄膜厚度的一种新方法

物理学报

张国勇, 张鹏翔. 2001: 测量高温超导YBCO薄膜厚度的一种新方法, 物理学报, 50(8): 1451-1455. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.08.010

引用本文:

张国勇, 张鹏翔. 2001: 测量高温超导YBCO薄膜厚度的一种新方法, 物理学报, 50(8): 1451-1455. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.08.010

2001: A NOVEL METHOD TO MEASURE THE THICKNESS OF YBCO THIN FILM, Acta Physica Sinica, 50(8): 1451-1455. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.08.010

Citation:

2001: A NOVEL METHOD TO MEASURE THE THICKNESS OF YBCO THIN FILM, Acta Physica Sinica, 50(8): 1451-1455. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.08.010

A NOVEL METHOD TO MEASURE THE THICKNESS OF YBCO THIN FILM

摘要: 生长在倾斜SrTiO3衬底上的YBCO薄膜具有激光感生电压效应，响应信号的衰减时间常量与薄膜的厚度有确定的关系. 作出了衰减时间常量与薄膜厚度的关系曲线，根据该曲线，由衰减时间常量就可确定薄膜的厚度.
- YBCO /
- 激光感生电压效应 /
- 时间常量 /
- 薄膜厚度

关键词:

摘要: 生长在倾斜SrTiO3衬底上的YBCO薄膜具有激光感生电压效应，响应信号的衰减时间常量与薄膜的厚度有确定的关系. 作出了衰减时间常量与薄膜厚度的关系曲线，根据该曲线，由衰减时间常量就可确定薄膜的厚度.

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