原子力显微术轻敲模式中探针样品接触过程及相位衬度研究
Study of tip-sample contact process and phase contrast in tapping mode atomic force microscopy
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| 引用本文: | 王晓平, 刘磊, 胡海龙, 张琨. 2004: 原子力显微术轻敲模式中探针样品接触过程及相位衬度研究, 物理学报, 53(4): 1008-1014. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.04.008 |
| Citation: | 2004: Study of tip-sample contact process and phase contrast in tapping mode atomic force microscopy, Acta Physica Sinica, 53(4): 1008-1014. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.04.008 |