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气体吸附法测定二氧化硅干凝胶的分形维数

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盛永刚, 徐耀, 李志宏, 吴东, 孙予罕, 吴中华. 2005: 气体吸附法测定二氧化硅干凝胶的分形维数, 物理学报, 54(1): 221-227. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.01.040
引用本文: 盛永刚, 徐耀, 李志宏, 吴东, 孙予罕, 吴中华. 2005: 气体吸附法测定二氧化硅干凝胶的分形维数, 物理学报, 54(1): 221-227. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.01.040
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2005: Determination of fractal dimensions of silicon dioxide xerogel by means of gas-adsorption, Acta Physica Sinica, 54(1): 221-227. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.01.040
Citation: 2005: Determination of fractal dimensions of silicon dioxide xerogel by means of gas-adsorption, Acta Physica Sinica, 54(1): 221-227. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2005.01.040
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气体吸附法测定二氧化硅干凝胶的分形维数

  • 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原,030001;中国科学院研究生院,北京,100039

  • 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原,030001

  • 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,北京,100039

Determination of fractal dimensions of silicon dioxide xerogel by means of gas-adsorption

  • 摘要: 提出了一种方便、科学有效的利用气体吸附法测定二氧化硅干凝胶等多孔材料分形维数(表面分形维数和孔分布分形维数)的方法,不需要进行一系列的吸附/脱附实验,只需要利用单一气体的一次吸附/脱附实验得出的样品孔分布、比表面数据,与不同的标尺进行关联,即可同时获得表面分形维数和孔分布分形维数.通过误差分析和校正,保证了结果的可靠性.用上述方法测定了二氧化硅干凝胶的分形维数,以FHH法和SAXS法对所得结果进行了比较和验证,并对吸附/脱附过程所得结果的差异进行了初步分析.
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出版历程

气体吸附法测定二氧化硅干凝胶的分形维数

  • 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原,030001;中国科学院研究生院,北京,100039
  • 中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原,030001
  • 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,北京,100039

摘要: 提出了一种方便、科学有效的利用气体吸附法测定二氧化硅干凝胶等多孔材料分形维数(表面分形维数和孔分布分形维数)的方法,不需要进行一系列的吸附/脱附实验,只需要利用单一气体的一次吸附/脱附实验得出的样品孔分布、比表面数据,与不同的标尺进行关联,即可同时获得表面分形维数和孔分布分形维数.通过误差分析和校正,保证了结果的可靠性.用上述方法测定了二氧化硅干凝胶的分形维数,以FHH法和SAXS法对所得结果进行了比较和验证,并对吸附/脱附过程所得结果的差异进行了初步分析.

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