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金刚石膜α粒子探测器的电学性能研究

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王林军, 刘健敏, 苏青峰, 史伟民, 夏义本. 2006: 金刚石膜α粒子探测器的电学性能研究, 物理学报, 55(5): 2518-2522. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.05.068
引用本文: 王林军, 刘健敏, 苏青峰, 史伟民, 夏义本. 2006: 金刚石膜α粒子探测器的电学性能研究, 物理学报, 55(5): 2518-2522. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.05.068
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Wang Lin-Jun, Liu Jian-Min, Su Qing-Fen, Shi Wei-Min, Xia Yi-Ben. 2006: Electrical properties of alpha-particle detectors based on CVD diamond films, Acta Physica Sinica, 55(5): 2518-2522. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.05.068
Citation: Wang Lin-Jun, Liu Jian-Min, Su Qing-Fen, Shi Wei-Min, Xia Yi-Ben. 2006: Electrical properties of alpha-particle detectors based on CVD diamond films, Acta Physica Sinica, 55(5): 2518-2522. doi: 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.05.068
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金刚石膜α粒子探测器的电学性能研究

  • 上海大学材料科学与工程学院,上海,200072

Electrical properties of alpha-particle detectors based on CVD diamond films

  • 摘要: 从外加偏压、预辐照处理等方面对三明治结构金刚石膜探测器在α粒子辐照下的电学性能进行了研究.电流-电压特性和脉冲高度分布测试和分析表明,金刚石膜探测器在能量为5.5MeV的241Am α粒子辐照一定时间后,其暗电流有所增加.探测器顶电极施加负偏压时,在α粒子辐照下得到的净电流和信噪比均较大.Raman光谱测试表明,造成上述现象的原因很可能是金刚石膜厚度方向的不均匀性分布.负偏压下探测器对α粒子的能量分辨率为25.0%,优于正偏压下的能量分辨率(38.4%).随着α粒子辐照时间的延长,探测器的净电流和电荷收集效率均有明显增加.
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出版历程

金刚石膜α粒子探测器的电学性能研究

  • 上海大学材料科学与工程学院,上海,200072

摘要: 从外加偏压、预辐照处理等方面对三明治结构金刚石膜探测器在α粒子辐照下的电学性能进行了研究.电流-电压特性和脉冲高度分布测试和分析表明,金刚石膜探测器在能量为5.5MeV的241Am α粒子辐照一定时间后,其暗电流有所增加.探测器顶电极施加负偏压时,在α粒子辐照下得到的净电流和信噪比均较大.Raman光谱测试表明,造成上述现象的原因很可能是金刚石膜厚度方向的不均匀性分布.负偏压下探测器对α粒子的能量分辨率为25.0%,优于正偏压下的能量分辨率(38.4%).随着α粒子辐照时间的延长,探测器的净电流和电荷收集效率均有明显增加.

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