表面氢化双层硅烯的结构和电子性质

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高潭华. 2015: 表面氢化双层硅烯的结构和电子性质, 物理学报, null(7): 076801. doi: 10.7498/aps.64.076801
引用本文: 高潭华. 2015: 表面氢化双层硅烯的结构和电子性质, 物理学报, null(7): 076801. doi: 10.7498/aps.64.076801
Gao Tan-Hua. 2015: Structural and electronic properties of hydrogenated bilayer silicene, Acta Physica Sinica, null(7): 076801. doi: 10.7498/aps.64.076801
Citation: Gao Tan-Hua. 2015: Structural and electronic properties of hydrogenated bilayer silicene, Acta Physica Sinica, null(7): 076801. doi: 10.7498/aps.64.076801

表面氢化双层硅烯的结构和电子性质

    通讯作者: 高潭华

Structural and electronic properties of hydrogenated bilayer silicene

    Corresponding author: Gao Tan-Hua
  • 摘要: 采用密度泛函理论(DFT)广义梯度近似GGA和HSB06方法研究了氢化双层硅烯(silicene)的结构和电子性质,结果表明:氢化后的双层硅烯可能存在三种稳定的构型, AA椅型、AB椅型和AA船型,其中AA椅型和AB椅型结构最为稳定,氢化后这三种稳定构型材料的性质由零带隙的半金属(semimetal)转变为禁带宽度分别为1.208,1.437和1.111 eV的间接带隙的半导体,采用混合泛函HSB06计算修正得到的带隙分别为1.595,1.785和1.592 eV.进一步分析了在双轴应变下氢化双层硅烯的带隙随应变的关系,得到应变可以连续的调节材料的带隙宽度,这些性质有可能应用于未来的纳米电子器件.
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出版历程
  • 刊出日期:  2015-04-15

表面氢化双层硅烯的结构和电子性质

    通讯作者: 高潭华
  • 武夷学院机电工程学院,武夷山,354300

摘要: 采用密度泛函理论(DFT)广义梯度近似GGA和HSB06方法研究了氢化双层硅烯(silicene)的结构和电子性质,结果表明:氢化后的双层硅烯可能存在三种稳定的构型, AA椅型、AB椅型和AA船型,其中AA椅型和AB椅型结构最为稳定,氢化后这三种稳定构型材料的性质由零带隙的半金属(semimetal)转变为禁带宽度分别为1.208,1.437和1.111 eV的间接带隙的半导体,采用混合泛函HSB06计算修正得到的带隙分别为1.595,1.785和1.592 eV.进一步分析了在双轴应变下氢化双层硅烯的带隙随应变的关系,得到应变可以连续的调节材料的带隙宽度,这些性质有可能应用于未来的纳米电子器件.

English Abstract

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