背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

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刘元琼, 赵学森, 雷海乐, 谢端, 高党忠. 2010: 背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度, 强激光与粒子束, 22(12): 2880-2884. doi: 10.3788/HPLPB20102212.2880
引用本文: 刘元琼, 赵学森, 雷海乐, 谢端, 高党忠. 2010: 背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度, 强激光与粒子束, 22(12): 2880-2884. doi: 10.3788/HPLPB20102212.2880
Liu Yuanqiong, Zhao Xuesen, Lei Haile, Xie Duan, Gao Dangzhong. 2010: Characterization of inner surface roughness for ICF capsules by backlit shadowgraphy, High Power Lase and Particle Beams, 22(12): 2880-2884. doi: 10.3788/HPLPB20102212.2880
Citation: Liu Yuanqiong, Zhao Xuesen, Lei Haile, Xie Duan, Gao Dangzhong. 2010: Characterization of inner surface roughness for ICF capsules by backlit shadowgraphy, High Power Lase and Particle Beams, 22(12): 2880-2884. doi: 10.3788/HPLPB20102212.2880

背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

Characterization of inner surface roughness for ICF capsules by backlit shadowgraphy

  • 摘要: 发展了背光阴影成像技术,用于诊断透明ICF冷冻靶冰层内表面质量.分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制.用光学追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像,用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系.建立了背光阴影成像实验装置,获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像.编制了阴影图像处理软件,获得了靶丸内表面1维功率谱曲线,并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度.理论分析、软件模拟及实验研究均表明,背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法.
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出版历程
  • 刊出日期:  2010-12-30

背光阴影成像技术表征ICF靶丸内表面粗糙度

  • 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900
  • 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;哈尔滨工业大学,精密工程研究所,哈尔滨,150001

摘要: 发展了背光阴影成像技术,用于诊断透明ICF冷冻靶冰层内表面质量.分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制.用光学追迹软件Tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像,用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系.建立了背光阴影成像实验装置,获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像.编制了阴影图像处理软件,获得了靶丸内表面1维功率谱曲线,并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度.理论分析、软件模拟及实验研究均表明,背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法.

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