10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

上一篇

下一篇

杨富, 黄伟, 张彬, 齐文宗, 蔡邦维. 2004: 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量, 强激光与粒子束, 16(3): 277-280.
引用本文: 杨富, 黄伟, 张彬, 齐文宗, 蔡邦维. 2004: 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量, 强激光与粒子束, 16(3): 277-280.
2004: Study on weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser, High Power Lase and Particle Beams, 16(3): 277-280.
Citation: 2004: Study on weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser, High Power Lase and Particle Beams, 16(3): 277-280.

10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

Study on weak absorption of thin film coatings irradiated by 10.6μm laser

  • 摘要: 建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μm CO2激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF3薄膜,以及镀制在Ge基底上不同膜系的(YbF3/ ZnSe)多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论.实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10-4,测量系统的灵敏度为10-5.
  • 加载中
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  770
  • HTML全文浏览数:  382
  • PDF下载数:  46
  • 施引文献:  0
出版历程
  • 刊出日期:  2004-03-30

10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

  • 四川大学,电子信息学院,四川,成都,610064;河北北方学院,物理系,河北,张家口,075028
  • 四川大学,电子信息学院,四川,成都,610064;中国科学院,光电技术研究所,四川,成都,610209
  • 四川大学,电子信息学院,四川,成都,610064

摘要: 建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置,对10.6μm CO2激光辐照下镀制在Ge基底上的不同厚度的单层ZnS,YbF3薄膜,以及镀制在Ge基底上不同膜系的(YbF3/ ZnSe)多层分光膜的弱吸收进行了测量,并对实验结果作了分析和讨论.实验结果表明,利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10-4,测量系统的灵敏度为10-5.

English Abstract

参考文献 (0)

目录

/

返回文章
返回