软X射线多层膜反射镜的反射率测量

上一篇

下一篇

谷渝秋, 淳于书泰, 李玉同, 张启仁, 尤永禄. 2000: 软X射线多层膜反射镜的反射率测量, 强激光与粒子束, 12(1): 58-60.
引用本文: 谷渝秋, 淳于书泰, 李玉同, 张启仁, 尤永禄. 2000: 软X射线多层膜反射镜的反射率测量, 强激光与粒子束, 12(1): 58-60.
GU Yu-qiu, CHUNYU Shu-tai, LI Yu-tong, ZHANG Qiren, YOU Yong-lu. 2000: MEASUREMENT OF SOFT X-RAY MULTILAYER MIRROR REFLECTANCE, High Power Lase and Particle Beams, 12(1): 58-60.
Citation: GU Yu-qiu, CHUNYU Shu-tai, LI Yu-tong, ZHANG Qiren, YOU Yong-lu. 2000: MEASUREMENT OF SOFT X-RAY MULTILAYER MIRROR REFLECTANCE, High Power Lase and Particle Beams, 12(1): 58-60.

软X射线多层膜反射镜的反射率测量

MEASUREMENT OF SOFT X-RAY MULTILAYER MIRROR REFLECTANCE

  • 摘要: 采用线状激光等离子体作为软X光源,用具有空间分辨的掠入射光栅谱仪对正入射多层膜反射镜进行了反射率测量.谱仪测谱范围20nm~40nm,谱分辨0.05nm,测得50层C/Al反射镜在中心波长28.6nm处反射率为22%±4%,带宽约为2.5nm.
  • 加载中
  • 加载中
计量
  • 文章访问数:  341
  • HTML全文浏览数:  48
  • PDF下载数:  11
  • 施引文献:  0
出版历程
  • 刊出日期:  2000-01-30

软X射线多层膜反射镜的反射率测量

  • 中物院核物理与化学研究所等离子体物理,国家级重点实验室,绵阳919-216信箱,621900

摘要: 采用线状激光等离子体作为软X光源,用具有空间分辨的掠入射光栅谱仪对正入射多层膜反射镜进行了反射率测量.谱仪测谱范围20nm~40nm,谱分辨0.05nm,测得50层C/Al反射镜在中心波长28.6nm处反射率为22%±4%,带宽约为2.5nm.

English Abstract

参考文献 (0)

目录

/

返回文章
返回