聚酰亚胺柔性基底上磁控溅射金属铜膜的电学性能研究*

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彭琎, 陈广琦, 宋宜驰, 谷坤明, 汤皎宁. 2014: 聚酰亚胺柔性基底上磁控溅射金属铜膜的电学性能研究*, 物理学报, null(13): 138101. doi: 10.7498/aps.63.138101
引用本文: 彭琎, 陈广琦, 宋宜驰, 谷坤明, 汤皎宁. 2014: 聚酰亚胺柔性基底上磁控溅射金属铜膜的电学性能研究*, 物理学报, null(13): 138101. doi: 10.7498/aps.63.138101
Peng Jin, Chen Guang-Qi, Song Yi-Chi, Gu Kun-Ming, Tang Jiao-Ning. 2014: Study on electrical p erformance of metal copp er films dep osited by magnetron sputtering on p olyimide flexible substrates, Acta Physica Sinica, null(13): 138101. doi: 10.7498/aps.63.138101
Citation: Peng Jin, Chen Guang-Qi, Song Yi-Chi, Gu Kun-Ming, Tang Jiao-Ning. 2014: Study on electrical p erformance of metal copp er films dep osited by magnetron sputtering on p olyimide flexible substrates, Acta Physica Sinica, null(13): 138101. doi: 10.7498/aps.63.138101

聚酰亚胺柔性基底上磁控溅射金属铜膜的电学性能研究*

Study on electrical p erformance of metal copp er films dep osited by magnetron sputtering on p olyimide flexible substrates

  • 摘要: 为了制备用于挠性电路板中的挠性覆铜板,在聚酰亚胺上使用中频磁控溅射方法制备金属Cu膜。实验中,通过改变制备温度、衬底偏压、制备时间等工艺参数,制备出导电性符合要求的Cu薄膜。用X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)研究薄膜的成分、结构以及表面形貌,用触针式台阶仪、四探针电阻测量仪测量薄膜的膜厚以及电阻,并计算薄膜的电阻率。最终得到制备导电性符合工业应用标准的Cu膜的最佳工艺条件:制备温度100?C,直流偏压50 V,无脉冲偏压。
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出版历程
  • 刊出日期:  2014-07-15

聚酰亚胺柔性基底上磁控溅射金属铜膜的电学性能研究*

  • 深圳大学材料学院,深圳市陶瓷先进技术实验室,深圳 518060
  • 伦敦帝国理工大学航空工程系,伦敦,SW75EL

摘要: 为了制备用于挠性电路板中的挠性覆铜板,在聚酰亚胺上使用中频磁控溅射方法制备金属Cu膜。实验中,通过改变制备温度、衬底偏压、制备时间等工艺参数,制备出导电性符合要求的Cu薄膜。用X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)研究薄膜的成分、结构以及表面形貌,用触针式台阶仪、四探针电阻测量仪测量薄膜的膜厚以及电阻,并计算薄膜的电阻率。最终得到制备导电性符合工业应用标准的Cu膜的最佳工艺条件:制备温度100?C,直流偏压50 V,无脉冲偏压。

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