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休斯结构多间隙耦合腔的稳定性分析

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崔健, 罗积润, 朱敏, 郭炜. 2011: 休斯结构多间隙耦合腔的稳定性分析, 物理学报, 60(6): 199-207.
引用本文: 崔健, 罗积润, 朱敏, 郭炜. 2011: 休斯结构多间隙耦合腔的稳定性分析, 物理学报, 60(6): 199-207.
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Cui Jian, Luo Ji-Run, Zhu Min, Guo Wei. 2011: Analyses for the stability of multi-gap Hughes-type coupled cavity, Acta Physica Sinica, 60(6): 199-207.
Citation: Cui Jian, Luo Ji-Run, Zhu Min, Guo Wei. 2011: Analyses for the stability of multi-gap Hughes-type coupled cavity, Acta Physica Sinica, 60(6): 199-207.
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休斯结构多间隙耦合腔的稳定性分析

  • 中国科学院电子学研究所,中国科学院高功率微波源与技术重点实验室,北京100190;中国科学院研究生院,北京100049

  • 中国科学院电子学研究所,中国科学院高功率微波源与技术重点实验室,北京100190

Analyses for the stability of multi-gap Hughes-type coupled cavity

  • 摘要: 基于空间电荷波理论,导出了N间隙休斯结构耦合腔中注-波耦合系数和电子注电导计算公式,通过计算耦合腔中电子注的品质因数来分析电路的稳定性.研究表明,随着间隙数目N的增加,工作模式(2π模)稳定性对直流工作电压更加敏感,同时其他寄生模式的抑制会愈加困难.以三间隙休斯结构耦合腔为例,通过合理选择工作电压,2π模可以稳定工作,通常靠近2π模的π/2模可能更容易引发自激振荡.
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出版历程
  • 刊出日期:  2011-06-30

休斯结构多间隙耦合腔的稳定性分析

  • 中国科学院电子学研究所,中国科学院高功率微波源与技术重点实验室,北京100190;中国科学院研究生院,北京100049
  • 中国科学院电子学研究所,中国科学院高功率微波源与技术重点实验室,北京100190

摘要: 基于空间电荷波理论,导出了N间隙休斯结构耦合腔中注-波耦合系数和电子注电导计算公式,通过计算耦合腔中电子注的品质因数来分析电路的稳定性.研究表明,随着间隙数目N的增加,工作模式(2π模)稳定性对直流工作电压更加敏感,同时其他寄生模式的抑制会愈加困难.以三间隙休斯结构耦合腔为例,通过合理选择工作电压,2π模可以稳定工作,通常靠近2π模的π/2模可能更容易引发自激振荡.

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