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Fe/ZnO(000-1)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

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张旺, 徐法强, 王国栋, 张文华, 李宗木, 王立武, 陈铁锌. 2011: Fe/ZnO(000-1)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究, 物理学报, 60(1): 543-549.
引用本文: 张旺, 徐法强, 王国栋, 张文华, 李宗木, 王立武, 陈铁锌. 2011: Fe/ZnO(000-1)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究, 物理学报, 60(1): 543-549.
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Zhang Wang, Xu Fa-Qiang, Wang Guo-Dong, Zhang Wen-Hua, Li Zong-Mu, Wang Li-Wu, Chen Tie-Xin. 2011: Thickness dependence of the interfacial interaction for the Fe/ZnO(000-1)system studied by photoemission, Acta Physica Sinica, 60(1): 543-549.
Citation: Zhang Wang, Xu Fa-Qiang, Wang Guo-Dong, Zhang Wen-Hua, Li Zong-Mu, Wang Li-Wu, Chen Tie-Xin. 2011: Thickness dependence of the interfacial interaction for the Fe/ZnO(000-1)system studied by photoemission, Acta Physica Sinica, 60(1): 543-549.
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Fe/ZnO(000-1)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

  • 中国科学技术大学国家同步辐射实验室,核科学与技术学院,合肥,230029

Thickness dependence of the interfacial interaction for the Fe/ZnO(000-1)system studied by photoemission

  • 摘要: 利用同步辐射光电子能谱(SRPES)和X射线光电子能谱(XPS)技术,系统研究了室温下Fe/ZnO界面形成过程中Fe薄膜与氧结尾的ZnO(000-1)衬底之间的相互作用,结果显示初始沉积的Fe明显被表面氧氧化为Fe2+离子,在Fe覆盖度为0-3 nm的范围内,分别观察到与界面电荷传输、化学反应以及薄膜磁性相关的三个有意义的临界厚度,这一结果将有助于基于Fe/ZnO界面的相关器件的设计和研发.
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出版历程
  • 刊出日期:  2011-01-30

Fe/ZnO(000-1)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

  • 中国科学技术大学国家同步辐射实验室,核科学与技术学院,合肥,230029

摘要: 利用同步辐射光电子能谱(SRPES)和X射线光电子能谱(XPS)技术,系统研究了室温下Fe/ZnO界面形成过程中Fe薄膜与氧结尾的ZnO(000-1)衬底之间的相互作用,结果显示初始沉积的Fe明显被表面氧氧化为Fe2+离子,在Fe覆盖度为0-3 nm的范围内,分别观察到与界面电荷传输、化学反应以及薄膜磁性相关的三个有意义的临界厚度,这一结果将有助于基于Fe/ZnO界面的相关器件的设计和研发.

English Abstract

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