镍掺杂硅纳米线电子结构和光学性质的第一性原理研究
First-principles study of electronic and optical properties of Ni-doped silicon nanowires
计量
- 文章访问数: 641
- HTML全文浏览数: 146
- PDF下载数: 0
- 施引文献: 0
| 引用本文: | 梁伟华, 丁学成, 褚立志, 邓泽超, 郭建新, 吴转花, 王英龙. 2010: 镍掺杂硅纳米线电子结构和光学性质的第一性原理研究, 物理学报, 59(11): 8071-8077. |
| Citation: | Liang Wei-Hua, Ding Xue-Cheng, Chu Li-Zhi, Deng Ze-Chao, Guo Jian-Xin, Wu Zhuan-Hua, Wang Ying-Long. 2010: First-principles study of electronic and optical properties of Ni-doped silicon nanowires, Acta Physica Sinica, 59(11): 8071-8077. |