质子辐照电荷耦合器件诱导电荷转移效率退化的实验分析

王祖军; 唐本奇; 肖志刚; 刘敏波; 黄绍艳; 张勇

物理学报

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王祖军, 唐本奇, 肖志刚, 刘敏波, 黄绍艳, 张勇. 2010: 质子辐照电荷耦合器件诱导电荷转移效率退化的实验分析, 物理学报, 59(6): 4136-4142.

引用本文:

王祖军, 唐本奇, 肖志刚, 刘敏波, 黄绍艳, 张勇. 2010: 质子辐照电荷耦合器件诱导电荷转移效率退化的实验分析, 物理学报, 59(6): 4136-4142.

Wang Zu-Jun, Tang Ben-Qi, Xiao Zhi-Gang, Liu Min-Bo, Huang Shao-Yan, Zhang Yong. 2010: Experimental analysis of charge transfer efficiency degradation of charge coupled devices induced by proton irradiation, Acta Physica Sinica, 59(6): 4136-4142.

Citation:

质子辐照电荷耦合器件诱导电荷转移效率退化的实验分析

清华大学工程物理系,粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京100084;西北核技术研究所,西安710024
西北核技术研究所,西安,710024

Experimental analysis of charge transfer efficiency degradation of charge coupled devices induced by proton irradiation

摘要: 开展了电荷耦合器件(CCD)质子辐照损伤的实验研究.分析了质子辐照CCD后电荷转移效率的退化规律,阐述了质子辐照诱导电荷转移效率退化的损伤机理,比较了不同能量质子对电荷转移效率的损伤程度.通过开展辐射粒子输运理论计算,分析了不同能量质子对电荷转移效率损伤差异的原因.
- 电荷耦合器件 /
- 质子 /
- 辐照效应 /
- 电荷转移效率