Sc2-xGaxW3O12体系负热膨胀性能研究
Negative thermal expansion of Sc2-xGaxW3O12 solid solution
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摘要: 通过固相反应法,在1100℃下成功制备出了系列Ga掺杂Sc2-xGaxW3O12(x=0,0.05,0.1,0.2,0.3,0.5,0.8)固溶体.X射线粉末衍射结构精修表明,Ga以替代Sc的形式成功进入Sc2-xCaxW3O12晶格,但不能获得端元组分Ga2W3O12化合物.晶胞参数的精修结果表明所有样品均具有负膨胀性能;随着Ga掺杂量的增加,固溶体Sc2-x GaxW3O12的晶胞参数α,c及晶胞体积随之收缩,而晶胞参数6则随之增大,固溶体Sc2-xGaxW3O12的平均体膨胀系数绝对值随之减小.在室温-300℃之间,随着温度的增加,体积膨胀系数绝对值急剧减小,而在300-800℃之间基本保持稳定,当温度大于800℃时,体积膨胀系数绝对值继续减小,逐渐向零膨胀靠近,并具有向正膨胀转化的趋势.
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关键词:
- 负热膨胀 /
- 热膨胀系数 /
- Rietveld结构精修
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